平顶畸变检测

检测项目

波前畸变(RMS ≤0.05λ，PV ≤0.3λ，λ=632.8nm)

曲率半径偏差(公差±0.1%，测量范围1-5000mm)

表面粗糙度(Ra ≤0.8nm，Rz ≤5nm)

平面度误差(≤λ/10@632.8nm)

厚度均匀性(局部偏差≤±0.5μm，全域偏差≤±1.5μm)

检测范围

光学透镜(激光系统、成像镜头)

半导体晶圆(光刻机掩膜版、硅基衬底)

精密模具(注塑模、压铸模)

光学薄膜(AR/IR镀膜、滤光片)

金属反射镜(空间望远镜、高能激光器)

检测方法

ASTM F529-03《光学元件表面平整度测试标准》

ISO 10110-5:2015《光学元件波前畸变公差规范》

GB/T 2831-2004《光学零件平面度检测方法》

ISO 14978:2018《几何产品规范(GPS)表面粗糙度测量通用规则》

GB/T 11162-2009《高精度光学元件曲率半径测试方法》

检测设备

Zygo Verifire HD+激光干涉仪(波长632.8nm，分辨率0.1nm，波前畸变分析)

Mitutoyo CMM CRYSTA-Apex S系列三坐标测量机(精度0.6+L/400μm，三维形貌重建)

Taylor Hobson PGI Optics轮廓仪(垂直分辨率0.8nm，表面粗糙度检测)

Trioptics OptiCentric 双光路中心仪(曲率半径测量精度±0.01%)

4D Technology PhaseCam 6010动态干涉仪(实时振动补偿，厚度均匀性分析)

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于平顶畸变检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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