全加器检测

检测项目

逻辑功能验证：输入组合(A/B/C_in)与输出(S/C_out)真值表匹配度检测，误差阈值≤0.1%

传输延迟时间：输入到输出的信号延迟测量，典型范围1ns-10ns(依据工艺节点)

静态/动态功耗：待机电流(≤5μA@3.3V)及工作电流(≤50mA@100MHz)

噪声容限检测：输入噪声电压耐受范围±0.3V_pp@V_DD=5V

温度特性测试：工作温度范围-40℃~125℃，输出电平漂移≤±5%

检测范围

CMOS工艺集成电路全加器模块

TTL/ECL逻辑门构成的分立式全加器电路

FPGA可编程逻辑器件内嵌全加器IP核

ASIC芯片中的高速全加器单元

纳米级FinFET工艺全加器电路(16nm及以下节点)

检测方法

GB/T 17574-2021：半导体器件验证基本程序

IEC 62380:2004：集成电路时序参数测试规范

JESD12-6B：低功耗数字器件电流测量标准

GB/T 3430-2015：数字集成电路抗干扰测试方法

MIL-STD-883H Method 1015.1：极端温度环境测试流程

检测设备

Tektronix MSO64B示波器：6GHz带宽，25GS/s采样率，用于传输延迟测量

Keysight 16800A逻辑分析仪：136通道，支持1.2Gbps速率，执行真值表验证

Keysight N6705C直流电源分析仪：μA级电流分辨率，完成功耗特性测试

ESPEC PSL-2KPH温箱：-70℃~180℃精确控温，实现温度特性评估

EMTEST NSG 4350噪声发生器：0.1-1GHz频段可调，用于噪声容限测试

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于全加器检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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