表面粗糙度:Ra值≤0.01μm(轮廓算术平均偏差),Rz值≤0.05μm(十点高度)
光泽度:60°入射角下≥95 GU(光泽单位),20°入射角下≥85 GU
反射率:可见光波段(380-780nm)≥98%,红外波段(1-5μm)≥95%
表面缺陷:划痕宽度≤0.5μm,麻点直径≤10μm(100倍显微镜观测)
平面度误差:每100mm长度内≤0.1μm(激光干涉仪测量)
金属材料:不锈钢(304/316L)、铝合金(6061/7075)、钛合金(TC4)
光学元件:K9玻璃、熔融石英、蓝宝石基片
精密模具:注塑模具钢(NAK80/S136)、冲压模具钢(SKD11)
半导体材料:单晶硅片(Φ200mm/Φ300mm)、碳化硅衬底
装饰材料:PVD镀膜不锈钢板、阳极氧化铝板
ASTM E430-17:标准测试方法使用便携式光泽度计测定高光泽表面
ISO 25178-2:2022:几何产品规范(GPS)表面纹理分析的非接触式测量方法
GB/T 13841-1992:金属及其他无机覆盖层表面粗糙度参数及其测量方法
ISO 10110-7:2017:光学和光子学元件表面缺陷的检验与分级标准
GB/T 29505-2013:硅片表面平整度的激光干涉测量方法
Taylor Hobson Surtronic S-100型表面粗糙度仪:分辨率0.8nm,符合ISO 4287标准
BYK-Gardner micro-TRI-gloss三角度光泽度计:20°/60°/85°同步测量精度±0.1GU
Zygo NewView 9000白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm,最大扫描范围100mm×100mm
Olympus LEXT OLS5000激光共聚焦显微镜:12000×光学放大倍率,Z轴分辨率1nm
Mitutoyo Crysta-Apex S 1166轮廓仪:最大测量长度150mm,重复精度±0.02μm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
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