表面电阻率:测量范围103-1012 Ω/sq(欧姆/平方)
体积电阻率:测试精度±5%,量程10-4-106 Ω·cm
方阻值:分辨率0.1 Ω/□(方块电阻)
导电层厚度:测量精度±2nm(纳米级)
附着力测试:划格法1-5级评定(ASTM D3359)
氧化铟锡(ITO)透明导电薄膜
纳米银线柔性导电薄膜
石墨烯复合导电膜
金属网格透明导电膜(铜/银基)
导电高分子薄膜(PEDOT:PSS等)
电阻测试:ASTM D257-14《绝缘材料直流电阻测试》
方阻测量:ISO 3915:1999《塑料-导电材料电阻率测定》
厚度分析:GB/T 11378-2005《金属覆盖层厚度测量 扫描电镜法》
透光率测试:GB/T 2410-2008《透明塑料透光率和雾度测定》
耐弯折性:IEC 62863-2013《柔性显示器件机械应力试验》
环境试验:GB/T 2423.17-2008《盐雾试验方法》
接触角测量:ISO 15989:2004《塑料薄膜电晕处理膜表面润湿张力测试》
元素分析:ASTM E1621-13《X射线荧光光谱法测定元素含量》
四探针测试仪:KEITHLEY 2450型,支持10nA-1A电流输出
非接触式方阻仪:Loresta-GX MCP-T700,测量范围10-4-106 Ω/□
台阶仪:Bruker Dektak XTL,垂直分辨率0.1Å(埃)
扫描电镜:Hitachi SU5000,配备EDX能谱分析模块
紫外可见分光光度计:PerkinElmer Lambda 950,波长范围175-3300nm
万能材料试验机:Instron 5944,最大载荷2kN(千牛)
高低温交变箱:ESPEC TABAI PL-3JPH,温度范围-70℃~150℃
X射线荧光光谱仪:Rigaku ZSX Primus IV,元素检测范围Be-U(铍至铀)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
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