棱边直线度:允许偏差±0.02mm/100mm
相邻面角度偏差:公差范围±0.05°
表面粗糙度(Ra):测量阈值0.1-6.3μm
晶棱尺寸公差:±0.01mm(边长≤50mm)
棱边倒角半径:检测精度±0.005mm
金属合金立方体(钛合金/铝合金/不锈钢)
陶瓷基复合材料立方体
光学玻璃立方体(K9/BK7)
半导体晶体(硅/砷化镓)
工程塑料立方体(PEEK/PC)
ISO 1101:2017 几何公差规范
ASTM E112-13 晶粒度测定标准
GB/T 1804-2000 一般公差线性尺寸未注公差
ISO 4287:1997 表面粗糙度术语定义
GB/T 1184-1996 形状和位置公差未注公差值
三坐标测量机:Mitutoyo CRYSTA-Apex S系列(空间精度0.6+L/400μm)
激光干涉仪:Renishaw XL-80(线性测量分辨率0.001μm)
表面粗糙度仪:Taylor Hobson Form Talysurf i系列(Ra测量范围0.01-50μm)
光学投影仪:Nikon V-12B(放大倍率50X-500X)
金相显微镜:Olympus BX53M(最大分辨率0.12μm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
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