1. 金属材料高宽比:测量范围0.1-50:1,公差±0.05mm(适用于铝合金/钛合金薄板)
2. 复合材料层间比例:纤维含量30%-70%的碳纤维/玻璃纤维增强树脂基体
3. 微电子线路线宽:最小分辨率0.1μm(适用5nm制程芯片)
4. 注塑件壁厚均匀性:公差带±0.02mm(参照ISO 20457标准)
5. 薄膜涂层厚度比:测量精度±2nm(PVD/CVD工艺镀层)
1. 金属结构件:航空航天用钛合金蜂窝板(厚度0.05-3mm)
2. 高分子制品:医疗导管(内径0.5-10mm)、光学透镜基材
3. 电子元器件:PCB线路板(线距10-500μm)、半导体封装体
4. 建筑材料:中空玻璃间隔条(厚度偏差≤±0.15mm)
5. 精密器械:微型轴承滚柱(直径公差±0.002mm)
1. ASTM E112-13:金相法测定晶粒尺寸与形状因子
2. ISO 4287:1997:接触式轮廓仪表面形貌分析
3. GB/T 11344-2021:超声波测厚仪操作规范
4. ISO 1463:2022:光学干涉法薄膜厚度测量
5. GB/T 1800.2-2020:尺寸公差与配合的数字化测量
6. ASTM B748-90:扫描电镜微区尺寸标定方法
1. Olympus DSX1000数码显微镜:5000倍放大率下实现0.01μm重复精度
2. Mitutoyo Crysta-Apex S 三坐标仪:配备RENISHAW SP25M扫描探头
3. Bruker ContourGT-K光学轮廓仪:垂直分辨率0.1nm的干涉测量系统
4. Keyence VHX-7000超景深显微镜:支持20mm×20mm视场三维重构
5. Hexagon Global Classic 07.10.07:配备HP-L-8.08激光扫描头
6. ZEISS Sigma 300场发射电镜:搭配SmartSEM软件自动测量模块
7. Panametrics-NDT 38DL PLUS超声测厚仪:频率范围1-25MHz
8. Taylor Hobson Talysurf i120接触式轮廓仪:行程120mm, 分辨率1nm
9. Nikon MM-400测量显微镜:配备DIC微分干涉对比系统
10. Agilent 5500 AFM原子力显微镜:Z轴分辨率0.05nm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
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