1. 体积电导率:测量范围1×10-8~1×108 S/m,分辨率0.1% FS
2. 表面电阻率:测试条件23±2℃/50±5% RH,量程1×103~1×1016 Ω/sq
3. 各向异性系数:轴向与径向电导率比值分析,精度±0.05%
4. 温度系数:-50℃~300℃温区内电导率变化率测定
5. 载流子迁移率:霍尔效应法测量半导体材料迁移率(0.1~104 cm²/V·s)
1. 金属材料:铜合金(C11000/C5191)、铝合金(6061/7075)等导电金属
2. 半导体材料:硅晶圆(N/P型)、砷化镓(GaAs)、碳化硅(SiC)衬底片
3. 高分子复合材料:碳纤维增强塑料(CFRP)、导电聚苯胺薄膜
4. 电子陶瓷:氧化锌压敏电阻、钛酸钡基PTCR材料
5. 纳米材料:石墨烯薄膜、碳纳米管分散液(浓度0.1~5 mg/mL)
ASTM B193-20:导电材料电阻率标准测试方法(四探针法)
ISO 3915:2021:塑料材料表面电阻与体积电阻测量规范
GB/T 3048.3-2007:电线电缆电性能试验方法 第3部分:体积电阻率测定
IEC 62631-3-1:2016:固体绝缘材料介电性能 第3-1部分:直流电阻测定
GB/T 1410-2006:固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法
Keysight 34465A数字万用表:6½位分辨率,最大1000 V直流电压测量
Four Dimensions FD-301表面电阻测试仪:量程103-1014 Ω,符合ASTM D257标准
Lucas Labs Pro4-4400四探针测试系统:自动温控模块(-70~300℃),支持薄膜/块体材料测试
Keithley 2450源表:脉冲模式电流输出(±1 A/±200 V),支持SCPI编程控制
HIOKI IM3570阻抗分析仪:频率范围0.01 Hz~5 MHz,基本精度±0.05%
Agilent B1505A功率器件分析仪:支持高阻材料测试(最高10 PΩ)
Jandel RM3000+四线制探针台:空间分辨率0.1 mm,配备自动样品台定位系统
Trek Model 152-1高压电源:输出电压±10 kV,用于绝缘材料击穿特性测试
Linseis LSR-3激光闪射法导热仪:同步测量热扩散率与电导率(20~1000℃)
Cascade Summit 12000探针台:12英寸晶圆级测试能力,集成真空吸附系统
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
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