1.电阻率测试:测量范围10-6-103Ω·m,温度区间25-1500℃
2.电导率温度系数:记录100-1200℃范围内每50℃间隔的线性变化率
3.载流子浓度分析:采用霍尔效应法测定1015-1021cm-3浓度范围
4.热稳定性测试:持续100小时高温老化后电导率衰减率≤5%
5.接触电阻测量:电极压力0.5-5N条件下接触电阻≤10mΩ
1.金属基高温合金:镍基/钴基超合金、钨钼难熔金属复合材料
2.陶瓷导电材料:掺杂氧化锆、碳化硅基半导体陶瓷
3.碳基复合材料:C/C复合材料、石墨烯增强聚合物
4.熔盐电解质:氯化物/氟化物混合熔盐体系
5.半导体器件:功率模块封装材料、IGBT基板涂层
ASTMB193-20《标准导电材料电阻率测试规程》四探针法
ISO22007-4:2017《热分析-导热系数测定-激光闪射法》
GB/T351-2019《金属材料电阻系数测量方法》直流电位降法
IEC60404-13:2018《磁性材料-电阻率测量方法》涡流检测技术
GB/T1551-2021《半导体单晶电阻率测定方法》扩展式范德堡法
1.Keithley2450源表:四线制高精度电阻测量(0.1fA-1A/10μV-200V)
2.LinseisL70PT1600高温炉:最高温度1600℃±1℃控温精度
3.NetzschLFA467HyperFlash®:激光闪射法导热系数分析仪
4.LakeShore8400系列霍尔效应测试系统:磁场强度±2T可调
5.AgilentE4980A精密LCR表:20Hz-2MHz频率范围阻抗分析
6.MMRTechnologiesK20温控台:-190℃至+300℃快速变温系统
7.ZEM-3热电性能测试仪:塞贝克系数与电导率同步测量
8.KeysightB1500A半导体分析仪:脉冲IV特性曲线测试功能
9.BrukerD8ADVANCEXRD:高温原位晶体结构分析系统
10.FEIQuantaFEG650SEM:场发射扫描电镜微观形貌观测
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
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1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。
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