1.正向压降(VF):测试电流1A/3A条件下的导通电压值(典型范围0.3-1.2V)
2.反向击穿电压(VBR):测量反向漏电流达10mA时的临界电压(范围50-2000V)
3.反向漏电流(IR):在额定反向电压下测试漏电流值(nA级至μA级)
4.结电容(Cj):1MHz频率下测量零偏置结电容值(典型值10-100pF)
5.热阻系数(RθJA):通过功率循环法测试结到环境的热阻值(单位℃/W)
1.硅基双二极管:包括DO-41、DO-15封装通用型器件
2.肖特基双二极管:适用于SMA/SMB封装的低VF器件
3.快恢复双二极管:涵盖FRD系列高频应用产品
4.TVS保护二极管:包含SMD型瞬态电压抑制器件
5.光耦内置二极管:适配PC817等光电耦合器内部结构
1.正向特性测试:依据GB/T6571-2016《半导体器件分立器件测试方法》第4.3节
2.反向耐压测试:参照IEC60747-1:2022半导体器件通用标准第6章
3.动态参数测试:采用ASTMF1248-16脉冲功率测试规程
4.热特性分析:执行JEDECJESD51-14瞬态热测试方法
5.可靠性试验:依照GB/T4937-2018半导体器件机械和气候试验方法
1.KeysightB1505A功率器件分析仪:支持200A/3kV高压大电流测试
2.TektronixDMM6500数字万用表:6位精度电阻/电压测量
3.Chroma19032耐压测试仪:AC/DC5kV绝缘耐压试验
4.ThermoScientificT3Ster热阻测试系统:μs级瞬态热特性分析
5.Agilent4294A阻抗分析仪:40Hz-110MHz精密电容测量
6.ESPECPL-3KGS温箱:-70℃~+180℃温度循环试验
7.HIOKIPW3390功率分析仪:0.05%精度功率损耗测试
8.Fluke289真有效值万用表:现场快速参数筛查
9.GWInstekLCR-8105G电桥:1kHz/1MHz双频LCR测试
10.RaytekTI400热像仪:非接触式温度分布监测
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;
7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。
1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。