1.正向电压(VF):测量LED导通时两端压降,典型值1.8-3.3V@20mA
2.反向电流(IR):施加5V反向电压时漏电流≤10μA
3.亮度(Lv):中心法向光强≥200mcd@20mA
4.色度坐标(x,y):CIE1931标准下偏差Δxy≤0.005
5.视角特性:半强度角θ1/2≥120
6.响应时间:上升/下降时间≤100ns
7.热阻(Rth):结到环境热阻≤300℃/W
1.7段数码管:0.28"-1.0英寸共阳/共阴结构
2.矩阵式数码管:44至88点阵模块
3.表面贴装型(SMD):PLCC-2/SOP-8封装器件
4.GaAsP基红光器件:波长630-660nm
5.GaN基蓝绿光器件:波长450-530nm
6.高亮度数码管:驱动电流50-100mA级产品
7.宽温型器件:工作温度-40℃~+85℃
1.光电参数测试:依据IEC60747-5-5Ed3.0(2020)执行
2.寿命试验:参照GB/T18904.3-2023进行1000h加速老化
3.环境试验:按GB/T2423系列完成温度循环(-40℃~+85℃,10cycles)
4.ESD抗扰度:依据IEC61000-4-2Level4(接触放电8kV)
5.机械强度:遵循MIL-STD-883HMethod2004振动测试
6.光谱分析:采用CIES025/E:2015测量标准
7.热特性测试:基于JESD51-14瞬态热测试法
1.KEITHLEY2636B源表:0.1fA分辨率电参数测试
2.KonicaMinoltaCS-2000分光辐射计:0.1nm波长精度
3.TektronixDPO7054示波器:50GHz带宽响应时间测量
4.ESPECGDW-225高低温试验箱:0.5℃温控精度
5.Chroma19032积分球:直径1m光学均匀性99%
6.KeysightB1505A功率器件分析仪:3000V/1500A测试能力
7.ThermoScientificPM100D光谱分析系统:CIE1931/1976双模式
8.OphirVega激光功率计:nW级微弱光强检测
9.FlukeTi450红外热像仪:640480像素热分布成像
10.EMTESTUCS500N静电发生器:30kV放电电压可调
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
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7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。
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5、委托完成,我方提供售后服务。