1.禁带宽度(Eg):测量范围0.1-6.0eV,精度0.02eV
2.价带顶位置(VBM):测定误差≤0.05eV
3.导带底位置(CBM):分辨率达0.01eV
4.费米能级偏移量:动态范围2.0eV
5.表面态密度:检测下限110^10states/cmeV
1.III-V族半导体材料(GaAs、InP等)
2.氧化物半导体(TiO₂、ZnO等)
3.钙钛矿光伏材料(MAPbI₃、CsPbBr₃等)
4.过渡金属硫化物(MoS₂、WS₂等)
5.贵金属催化剂(Pt/C、Au/TiO₂等)
1.X射线光电子能谱法(XPS):符合ISO14707:2015与GB/T29558-2013
2.紫外光电子能谱法(UPS):执行ASTME1508-98(2020)
3.电化学阻抗谱法(EIS):依据GB/T39255-2020标准
4.开尔文探针力显微镜(KPFM):参照ISO/TS21383:2021
5.紫外可见漫反射光谱(UV-VisDRS):采用GB/T36065-2018规范
1.ThermoScientificESCALABXi+:配备单色化AlKα源(1486.6eV),能量分辨率<0.45eV
2.ULVAC-PHIVersaProbeIV:支持深度剖析与角分辨XPS联用
3.SPECSPHOIBOS150CCD:UPS系统配备HeI/II光源(21.2/40.8eV)
4.BrukerDimensionIcon:原子力显微镜集成KPFM模块,空间分辨率3nm
5.MetrohmAutolabPGSTAT302N:电化学工作站支持Mott-Schottky测试
6.AgilentCary7000UV-Vis-NIR:配备积分球附件(波长范围175-3300nm)
7.HORIBALabRAMHREvolution:共聚焦拉曼光谱仪(激光波长325-1064nm)
8.KeysightB1500A半导体分析仪:支持C-V特性曲线测量(频率1kHz-5MHz)
9.PARSTAT4000A电化学系统:具备光电流响应测试模块(光强校准精度3%)
10.OxfordInstrumentsOptistatDN-V:低温恒温器(温度范围4-500K)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
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