1.尺寸精度:线性尺寸公差0.001mm至0.1mm
2.形位公差:平面度/圆度≤0.005mm
3.表面粗糙度:Ra0.05μm-6.3μm
4.三维轮廓度:偏差量≤0.003mm
5.材料厚度:测量分辨率0.1μm
1.金属合金:铝合金/钛合金精密部件
2.高分子材料:工程塑料注塑件
3.陶瓷基复合材料:半导体封装基板
4.电子元器件:PCB板/接插件
5.光学元件:透镜/棱镜曲面结构
1.三坐标测量法(ISO10360-2:2009)
2.激光扫描法(ASTME2544-11a)
3.白光干涉法(GB/T34879-2017)
4.轮廓仪触针法(GB/T6062-2009)
5.X射线断层扫描(ASTME1570-11)
1.HexagonLeitzPMM-C三坐标测量机:空间精度(1.9+L/350)μm
2.MitutoyoCrysta-ApexS系列轮廓仪:Z轴分辨率0.01μm
3.KeyenceVR-5000三维扫描系统:点距0.01mm
4.ZygoNewView9000白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm
5.ZeissMETROTOM1500工业CT:体素尺寸<5μm
6.RenishawXL-80激光干涉仪:线性测量精度0.5ppm
7.MahrFederalMarSurfLD260粗糙度仪:Ra测量范围0.005-16μm
8.OGPSmartScopeFlash500多传感器系统:光学放大倍率250X
9.NikonMM-400U测量显微镜:物镜NA值0.55
10.BrukerContourGT-K光学轮廓仪:横向分辨率0.45μm
📝 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
⏳ 检测周期:7~15工作日,可加急。
🏅 资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
📏 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
🔬 非标测试:支持定制化试验方案。
📞 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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