1.表面粗糙度(Ra):量化0.01-50μm范围内的算术平均偏差值
2.峰谷高度(Rz):测量5个最高峰与5个最深谷的平均垂直间距
3.均方根粗糙度(Rq):表征0.05-6.3μm波长范围内的轮廓波动
4.轮廓最大高度(Rt):单次取样长度内的最大峰谷垂直距离
5.轮廓支承率(Rmr(c)):分析特定深度下的材料承载比例
1.金属材料:精密机械零件、模具型腔、轴承滚道等
2.陶瓷基材:半导体晶圆、光学镜片基底、封装基板
3.高分子材料:注塑成型件、薄膜涂层表面、3D打印层纹
4.复合材料:碳纤维层压板、金属陶瓷复合面
5.光学元件:非球面透镜、衍射光栅微结构表面
1.触针式轮廓法:依据ISO4287/4288及GB/T3505标准进行接触式测量
2.白光干涉法:采用ISO25178-6标准实现亚纳米级垂直分辨率
3.激光共聚焦法:执行ASTME2544标准获取三维表面形貌数据
4.原子力显微术:参照ISO11039标准进行纳米级表面表征
5.数字图像处理法:基于GB/T39498标准开展非接触式全场分析
1.TaylorHobsonFormTalysurfPGI3840:接触/非接触复合式系统,Ra测量范围0.005-100μm
2.MitutoyoSurftestSJ-410:便携式粗糙度仪,符合JISB0601标准
3.BrukerContourGT-K1:白光干涉三维形貌仪,垂直分辨率0.1nm
4.KeyenceVK-X3000:激光共聚焦显微镜,支持100~15000放大倍率
5.ZeGagePlus3D:数字全息干涉仪,测量速度达1秒/帧
6.OlympusLEXTOLS5000:激光扫描显微镜,XY分辨率120nm
7.Hommel-EtamicT8000RC:高精度轮廓仪,最大行程800mm
8.NanoveaST400:三合一模块化系统(接触/光学/摩擦学)
9.AliconaInfiniteFocusG5:焦点变化技术设备,60倾斜测量能力
10.MarSurfLD260:大工件测量系统,Z轴量程1000μm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
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4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
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