1.表面粗糙度:Ra0.01-25μm|Rz0.05-100μm|Sa/Sq三维参数
2.几何尺寸精度:平面度≤0.1μm|平行度≤2μm/m|圆度≤0.5μm
3.硬度梯度:HV0.01-HV50|显微硬度分辨率0.1μm
4.残余应力:XRD法2000MPa|电解抛光层深分辨率1μm
5.微观组织分析:晶粒度评级G=1-14|相含量测定精度0.5%
1.金属合金:钛合金TC4/TA15|高温合金GH4169/Inconel718
2.高分子复合材料:CFRP层压板|PEEK植入物基材
3.陶瓷材料:Al₂O₃基板|SiC密封环
4.半导体晶圆:硅片(100)/(111)晶向|GaN外延片
5.生物医用材料:钴铬合金关节头|氧化锆牙冠
1.ISO4287:1997/GB/T3505-2009表面粗糙度评定规范
2.ASTME384-22/GB/T4340.1-2009显微硬度试验标准
3.ISO25178-2:2022三维表面纹理测量标准
4.GB/T7704-2017X射线衍射残余应力测定方法
5.ASTME112-13/GB/T6394-2017晶粒度测定规程
1.TaylorHobsonPGI3D轮廓仪:分辨率0.1nm|扫描速度50mm/s
2.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:1200万像素|Z轴分辨率1nm
3.BrukerD8DISCOVERXRD衍射仪:CuKα光源|Ψ角范围45
4.ZwickZHVμ显微硬度计:载荷范围1gf-10kgf|CCD定位精度0.1μm
5.KeyenceVR-6000三维测量系统:16MP双远心镜头|FOV100mm75mm
6.MitutoyoSJ-410表面粗糙度仪:曲率半径3μm探针|λc截止波长0.25mm
7.ZeissAxioImager.M2m金相显微镜:ECEpiplan物镜|DIC微分干涉对比
8.InstronElectroPulsE10000疲劳试验机:动态载荷10kN|频率100Hz
9.FEIScios2DualBeamFIB-SEM:束流1pA-50nA|STEM分辨率0.7nm
10.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD系统:Pixel3D探测器|高温附件1600℃
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
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