1.碳酸亚铊纯度测定:采用滴定法或光谱法测定主成分含量(≥99.5%),误差范围0.2%。
2.水分含量检测:卡尔费休法测定游离水及结晶水(≤0.1%),符合GB/T6283-2008标准。
3.重金属杂质分析:ICP-MS法检测铅(≤10ppm)、镉(≤5ppm)、汞(≤1ppm)等痕量元素。
4.溶解性测试:测定在去离子水(20℃)中的溶解度(≥50g/L),记录溶液pH值变化范围(6.5-7.5)。
5.粒度分布表征:激光衍射法分析粉末粒径D50值(10-50μm),跨度系数≤1.8。
1.化工原料:高纯碳酸亚铊晶体及工业级粗品。
2.电子材料:半导体镀膜用碳酸亚铊靶材及前驱体溶液。
3.环境样本:土壤、水体中残留的碳酸亚铊污染物。
4.医药中间体:含铊化合物合成原料的质控分析。
5.工业废水:电镀、冶金行业排放废液的铊离子监测。
1.ICP-MS法:依据ASTMD1976-20测定痕量金属杂质,检出限低至0.01ppb。
2.X射线衍射(XRD):按ISO20203:2015鉴定晶体结构及相纯度。
3.原子吸收光谱(AAS):执行GB/T15337-2008定量分析铊元素总量。
4.离子色谱法:参照HJ778-2015检测水溶液中阴离子(Cl⁻、SO₄⁻)残留。
5.热重分析(TGA):基于GB/T14837-2013评估热分解特性及稳定性。
1.ThermoFisheriCAPRQICP-MS:配备碰撞反应池技术,实现超痕量元素分析。
2.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪:支持火焰/石墨炉双模式切换。
3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm,精度1%。
4.Metrohm905Titrando自动电位滴定仪:符合GLP规范的酸碱度与纯度测定。
5.ShimadzuXRD-7000X射线衍射仪:采用Cu-Kα辐射源解析晶体结构。
6.MettlerToledoTGA/DSC3+热重分析仪:同步测定热失重与差示扫描量热数据。
7.Agilent1260InfinityII离子色谱系统:配备电导检测器及阴离子交换柱。
8.SartoriusMA37水分测定仪:卡尔费休库仑法精度达0.001mgH₂O。
9.HORIBALA-950V2动态光散射仪:纳米级颗粒分散稳定性评估专用设备。
10.Metrohm862紧凑型离子色谱仪:适用于现场快速筛查水样中铊离子浓度。
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
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