1.电荷密度分布:测量范围110⁻⁹~110⁻C/m,精度0.5%
2.介电常数测定:频率范围1kHz~1MHz,温度控制0.1℃
3.极化率测试:电场强度0.1~10kV/mm,响应时间≤10ns
4.表面电势映射:空间分辨率50nm@10μm扫描范围
5.空间电荷衰减:时间常数测量0.1s~100h
1.III-V族半导体晶圆(GaAs、InP等)
2.锂离子电池固态电解质薄膜
3.高分子驻极体材料(PTFE、PVDF等)
4.纳米结构金属氧化物涂层(TiO₂、ZnO等)
5.MEMS器件绝缘层(SiO₂/Si₃N₄叠层)
ASTMD150-18介电强度测试标准
ISO1853:2018导电材料体积电阻率测定
GB/T1409-2006电气绝缘材料介电性能试验
IEC62631-3-1:2016介质材料介电特性测量
GB/T31838.4-2019固体绝缘材料空间电荷测试
1.Agilent4294A阻抗分析仪:40Hz~110MHz宽频介电谱测量
2.Keithley6517B静电计:10aA~20mA电流测量能力
3.TREK347-3HCE非接触式表面电位计:20kV量程
4.KeysightB1500A半导体分析仪:1fA~1A电流分辨率
5.HIOKIIM3590化学阻抗分析仪:10mHz~200MHz频率范围
6.BrukerDimensionIcon原子力显微镜:PeakForceKPFM模式电荷成像
7.ThermoScientificESCALABXi+XPS系统:表面元素化学态分析
8.HidenHPR-60分子束质谱仪:原位电荷输运特性研究
9.LinkamTS1500热台系统:-196~600℃变温测试平台
10.ZEISSCrossbeam550FIB-SEM双束系统:纳米尺度截面电荷观测
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
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