可控硅组件检测

检测项目

1.触发特性测试：包含触发电压(V_GT)0.8-1.5V、触发电流(I_GT)5-50mA
2.维持电流测试：测量器件维持导通的最小电流值(I_H)10-500mA
3.通态峰值电压(V_TM)：在额定电流下测量1.0-3.0V范围
4.关断时间(t_q)：评估反向恢复特性，典型值10-100μs
5.热阻(R_th)：结壳热阻≤1.5℃/W(@T_j=125℃)

检测范围

1.普通单向可控硅(SCR)：KP系列3CT型器件
2.快速关断可控硅(FSCR)：KK系列高频开关器件
3.双向可控硅(TRIAC)：BTA/BTB系列交流控制器件
4.逆导型可控硅(RCT)：KN系列反向并联结构器件
5.光控可控硅(LASCR)：TLP/ILD系列光电隔离器件

检测方法

1.触发特性测试：依据GB/T15291-2015《半导体器件分立器件》第6.3节
2.动态参数测试：采用IEC60747-6标准规定的双脉冲法
3.热阻测试：执行ASTMD5470稳态热传导法
4.绝缘强度测试：参照GB/T16927.1-2011工频耐压试验规程
5.环境适应性测试：按ISO16750-4进行温度循环(-40℃~+150℃)试验

检测设备

1.KeysightB1505A功率器件分析仪：支持2000A/10kV脉冲测试
2.TektronixDPO7054C示波器：4GHz带宽的瞬态特性记录设备
3.Chroma19032耐压测试仪：AC5kV/DC6kV绝缘强度检测
4.FLIRA655sc红外热像仪：非接触式结温分布测量系统
5.ESPECPL-3K环境试验箱：温控精度0.5℃的可靠性验证设备
6.HIOKIRM3545微电阻计：0.1μΩ分辨率的导通电阻测量仪
7.Agilent34970A数据采集器：同步记录多通道热电偶数据
8.GWInstekLCR-8101G电桥：1MHz频率下的动态参数分析仪

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于可控硅组件检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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