谱斑检测

检测项目

1.波长范围：测量380-2500nm波段内特征谱线偏移量(0.5nm精度)

2.光斑尺寸：测定1μm-50mm范围内光斑直径(重复性误差≤0.3%)

3.强度分布：分析光斑能量密度梯度(三维映射分辨率0.01mW/mm)

4.椭圆度偏差：计算X/Y轴向直径比(测量精度0.5%)

5.色坐标偏移：CIE1931标准下ΔE≤0.5的色差容限控制

检测范围

1.光学薄膜：包括增透膜、分光膜等镀层产品的光谱响应特性

2.半导体晶圆：硅基/化合物半导体外延层的光致发光特性

3.激光器件：LD/VCSEL等激光源的近场/远场光斑质量

4.显示面板：OLED量子点膜层的色域均匀性

5.光纤器件：保偏光纤端面模场分布特性

检测方法

ASTME275-08(2017)描述紫外可见分光光度计性能验证方法

ISO13694:2018规定激光束功率密度分布的测试要求

GB/T13334-2018光学薄膜光谱特性测试方法

GB/T26184-2010激光光束宽度测试方法

ISO11146-1:2021激光束宽度及发散角测量标准

检测设备

1.OceanOpticsUSB4000光谱仪：波长范围200-1100nm，光学分辨率1.5nm(FWHM)

2.ThorlabsBP209-IR/M光束分析仪：支持400-1700nm波段，最大采样率54Hz

3.HamamatsuC12880MA微型光谱模块：集成式设计，波长精度0.3nm

4.ZygoVerifireMST激光干涉仪：面形测量精度λ/1000(PV值)

5.OphirSP928积分球光谱仪：动态范围0.1pW-10W功率测量

6.KeyenceLM系列激光位移计：0.01μm分辨率非接触测量

7.AvantesAvaSpec-ULS2048CL-EVO光谱仪：75μm狭缝配置，2048像素CCD阵列

8.NewportLBP-2-USB光束轮廓仪：30μm空间分辨率CMOS传感器

9.EdmundOpticsEO-BeamProfiler软件系统：支持ISO11146标准参数计算

10.HoribaiHR550成像光谱仪：焦长550mm，杂散光水平<0.05%

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于谱斑检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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