总不溶性杂质含量:检测范围0.01-100mg/g,精度±0.5%(依据ISO6497)
无机不溶性杂质:测量参数包括重金属残留,范围0.1-50ppm,精度±1μg/g(符合GB/T5009.11)
有机不溶性杂质:检测纤维素含量,范围0.5-20%,分辨率0.1%(基于ISO6865)
粒径大于50μm颗粒:计数精度±5%,尺寸分布0.1-1000μm(参考ASTME1617)
沙粒含量:测量范围0.001-1g/kg,误差±0.0005g(采用GB/T15673)
纤维状杂质:定量分析长度1-500μm,密度0.01-5mg/cm³(依据ISO11052)
金属不溶性残留:检测铁、铝等元素,范围0.05-10ppm,精度±0.01ppm(符合GB/T5009.90)
微生物不溶性杂质:计数细菌孢子,范围10-10⁶CFU/g,误差±5%(参考ISO21527)
塑料微粒含量:粒径0.5-100μm,浓度0.1-100mg/L,精度±0.05mg(基于ASTMD8331)
灰分不溶性组分:测定范围0.1-99%,分辨率0.01%(依据GB/T14769)
碳黑残留:测量浓度0.01-5%,误差±0.001%(采用ISO11358)
硅酸盐杂质:含量范围0.05-10mg/kg,精度±0.005mg(参考GB/T5009.15)
食品原料:如面粉、糖类、食用油等
饮用水及瓶装水:包括矿泉水、纯净水等
药品制剂:片剂、胶囊、粉末药品等
化妆品:乳液、粉末、口红等
化工产品:聚合物颗粒、染料、催化剂等
塑料材料:包装薄膜、树脂颗粒等
纺织品:棉纤维、合成织物等
金属粉末:铁粉、铜粉、合金粉末等
农业产品:肥料、种子、饲料等
石油产品:润滑油、燃料油等
环境样品:土壤、沉积物、空气颗粒物等
电子材料:半导体粉末、绝缘涂层等
过滤称重法:依据ISO6497标准,使用定量滤纸分离并称重杂质
离心分离法:采用GB/T5009.4标准,通过高速离心沉淀不溶性组分
显微镜计数法:参考ASTME1617,利用光学显微镜统计颗粒数量和尺寸
灰化重量法:依据ISO2171标准,高温灰化后测量残留物重量
沉淀滴定法:采用GB/T5009.11,化学试剂沉淀杂质并滴定分析
激光衍射法:基于ISO13320,激光散射测量粒径分布
离子色谱法:参考GB/T33345-2016,分离检测离子型不溶性残留
X射线荧光法:依据ASTMD4294,非破坏性分析元素组成
超声波萃取法:采用ISO11052,超声波辅助分离杂质
沉降分析法:参考GB/T14769,重力沉降测量密度
红外光谱法:基于ASTME1252,鉴定有机杂质结构
电导率测试法:依据ISO7888,测量溶液电导变化评估杂质
精密电子天平:型号AE123,量程0.001mg-200g,精度±0.01mg(用于称重杂质)
真空过滤装置:型号VF456,滤膜孔径0.45-5μm,压力范围0-100kPa(分离不溶性颗粒)
光学显微镜:型号OM789,放大倍数40-1000x,分辨率0.2μm(计数和观察杂质形态)
高速离心机:型号HC101,转速1000-15000rpm,容量50ml×6(沉淀杂质)
激光粒径分析仪:型号LPA202,测量范围0.01-1000μm,误差±1%(分析颗粒分布)
灰化炉:型号AF303,温度范围50-1000°C,控温精度±1°C(高温处理样品)
超声波清洗器:型号UC404,频率40kHz,功率100-500W(萃取杂质)
X射线荧光光谱仪:型号XRF505,元素检测范围Na-U,精度±0.01%(元素分析)
离子色谱仪:型号IC606,检出限0.1ppb,流速0.1-5ml/min(离子残留检测)
沉降天平:型号SA707,量程0.1-100g,时间分辨率0.1s(密度测量)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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