晶体结构表征:
1.人造石墨:聚焦石墨化度(R≥0.85)及晶粒取向分布(Lotgering因子≥0.75)
2.天然鳞片石墨:检测晶体完整性(FWHM002≤0.3°)及杂质赋存状态
3.活性炭材料:表征微孔率(Vmicro/Vtotal≥0.8)及孔径分布集中度
4.碳纤维及其复合材料:分析皮层/芯层结构差异及界面结合状态(界面剪切强度≥80MPa)
5.石墨烯材料:测定层数(1-10层统计)、缺陷密度(ID/IG≤0.15)及边缘结构
6.碳纳米管:检测管径分布(1-5nm)、手性角(θ=0-30°)及壁数(1-5层)
7.硬碳材料:分析类石墨微晶尺寸(Lc≤2nm)及闭孔结构占比
8.玻璃碳:表征无定形碳网络结构及微孔连通性(连通孔率≥95%)
9.碳/碳复合材料:检测碳基体/纤维界面反应层(厚度≤200nm)及热解碳织构
10.多孔碳泡沫:分析孔穴形貌(开孔率≥98%)及韧带结构结晶度
11.炭黑材料:检测聚集体形态(DBP吸收值≥120mL/100g)及表面官能团
12.中间相碳微球:表征球径分布(5-50μm)及内部流线型织构
13.生物质衍生碳:分析杂原子掺杂浓度(N/O含量1-10at%)及缺陷类型
14.石墨负极材料:检测层间化合物形成能力(Li+扩散系数≥10-10cm²/s)
15.金刚石薄膜:分析sp³键含量(≥95%)及晶界缺陷密度(≤106cm-2)
国际标准:
1.高分辨透射电镜:JEOLJEM-ARM300F(点分辨率0.08nm,球差校正)
2.X射线衍射仪:BrukerD8ADVANCE(2θ精度±0.0001°,CuKα辐射)
3.拉曼光谱仪:RenishawinViaQontor(空间分辨率500nm,532/785nm双激光源)
4.比表面及孔径分析仪:MicromeriticsASAP2460(压力分辨率0.1mmHg,孔径范围0.35-500nm)
5.场发射扫描电镜:ZeissGeminiSEM500(分辨率0.8nm@1kV,EDS探测限0.1wt%)
6.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon(扫描范围90μm,分辨率0.2nm)
7.X射线光电子能谱仪:ThermoScientificK-Alpha+(能量分辨率0.5eV,空间分辨率30μm)
8.同步热分析仪:NetzschSTA449F5(灵敏度0.1μg,最高温度1600℃)
9.聚焦离子束系统:ThermoScientificHeliosG4UX(离子束分辨率2.5nm,束流0.1pA-65nA)
10.小角X射线散射仪:AntonPaarSAXSessmc²(q范围0.07-28nm-1)
11.气体吸附分析仪:QuantachromeAutosorb-iQ(压力范围10-7-1bar,5个独立P0传感器)
12.纳米压痕仪:KeysentG200(载荷分辨率50nN,位移分辨率0.01nm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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