焊球拉伸性能:
引线键合拉伸性能:
封装体拉伸性能:
基板拉伸性能:
温度循环影响:
湿度影响:
机械冲击影响:
高温老化影响:
1.球栅阵列封装芯片:各类球栅阵列封装芯片焊球的拉伸强度和拉脱力测试
2.芯片级封装:芯片级封装器件的焊点和凸点拉伸承载能力评价
3.引线键合封装:采用金线、铜线或铝线键合的传统封装芯片的拉伸可靠性测试
4.倒装芯片封装:倒装焊芯片凸点的拉伸剪切和拉脱性能评估
5.功率器件封装:功率半导体芯片的焊料层和基板拉伸粘结强度测试
6.存储芯片封装:存储芯片封装体的拉伸力学性能和界面结合可靠性
7.传感器芯片封装:微机电系统传感器芯片的键合和封装拉伸性能
8.系统级封装:多芯片模组和系统集成封装的整体拉伸可靠性验证
行业标准:
国家标准:
方法差异说明:行业标准对焊球和键合线拉伸有详细的试验条件规定,适用于封装工艺质量控制;国家标准涵盖更广泛的半导体器件机械试验,方法通用性强;军用标准对温度循环和机械冲击等环境预处理要求更为严格,适用于高可靠性场景。
1.微力拉伸试验机:量程覆盖零点零一至一百牛,精度零点零零一牛,配备微型拉伸夹具
2.焊球拉脱测试仪:拉脱力测量范围零点一至五十牛,精度正负百分之一
3.引线键合拉伸测试仪:拉伸速度范围零点一至一百毫米每分钟,力值分辨率零点零零一牛
4.高低温环境试验箱:温度范围零下七十至一百七十五摄氏度,用于温度预处理
5.恒温恒湿试验箱:湿度范围百分之十至百分之九十八,用于潮湿预处理
6.温度循环试验箱:温变速率不低于每分钟十五摄氏度,用于热冲击预处理
7.振动试验台:频率范围五至二千赫兹,加速度范围零至一百克,用于振动预处理
8.数据采集系统:采样频率不低于一千赫兹,实时记录力和位移数据
9.数字显微镜:放大倍数五十至五百倍,用于拉伸破坏后的断口分析
10.光学测量仪:测量精度一微米,用于焊球和键合线尺寸测量
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是关于芯片拉伸检测相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。
2、我院对已出过的报告负责。
3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。
4、检测服务领域广,可参考标准多(国标、企标、JianCe、工标、国际标准等)。
5、周期短,费用低,方案全。
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7、全国上门取样/现场见证试验。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;
7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。
1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。


