镀层厚度测定:
镀层均匀性:
结合力试验:
可焊性:
镀层成分分析:
表面形貌:
孔隙率:
耐腐蚀性:
不同电镀类型对比:
1.芯片引线框架:铜合金引线框架镀银/镀镍/镀金
2.BGA/CSP凸点:焊锡凸点成分和高度
3.芯片焊盘:铝/铜焊盘镀层(UBM)
4.引脚/端子:DIP/SOP/QFP引脚镀锡可焊性
5.倒装芯片bump:微凸点镀层评估
6.晶圆级封装WLP:晶圆电镀铜柱/锡凸点
7.TSV硅通孔:TSV铜电镀填充
8.PCB焊盘:PCB表面处理ENIG/OSP/HASL
9.芯片散热片:散热金属表面镀镍/镀银
10.MEMS器件:MEMS芯片表面镀层评估
国际标准:
国家标准:
方法差异说明:XRF(GB 16921/ASTM B568)是芯片镀层厚度测定的首选方法,非破坏且快速;库仑法(GB 4955)可精确测量但破坏样品;JESD22-B102是半导体可焊性专用标准;IPC 4552/4553是PCB表面处理ENIG/ENEPIG的行业规范;镀层结合力测试根据镀层类型选择合适方法。
1.XRF测厚仪:SFT 9500型(多元素同时测定,精度0.005um)
2.可焊性测试仪:SAT-5100型(浸润法/润湿力法)
3.扫描电镜+EDS:JSM-7800F型(镀层截面/成分)
4.原子力显微镜:Dimension Icon型(纳米粗糙度)
5.白光干涉仪:Wyko NT9100型(3D表面形貌)
6.金相显微镜:镀层截面制备和观察
7.盐雾试验箱:NSS/AASS模式
8.HAST试验箱:85 C/85%RH
9.划格器:百格法结合力
10.热震试验箱:-65 C leftrightarrow +150 C
以上是关于芯片电镀检测相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
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5、委托完成,我方提供售后服务。


