1.成分分析:Cu/In/Ga/Se元素比例测定(精度0.1at%),二次离子质谱法深度分布分析
2.厚度测量:纳米级精度台阶仪测试(范围50nm-3μm),误差≤2%
3.结构表征:XRD测定晶粒尺寸(2θ角范围20-80),Raman光谱识别相纯度
4.电学性能:霍尔效应测试载流子浓度(10⁶-10⁰cm⁻),四探针法测量方阻(0.1-100Ω/□)
5.缺陷分析:PL光谱检测带隙分布(900-1400nm),SEM-EDS定位元素偏析
1.光伏组件用CIGS吸收层薄膜(厚度0.8-2μm)
2.柔性衬底Mo/SLG基CIGS薄膜
3.共蒸镀法制备的梯度组分样品
4.溅射后硒化处理的工业镀膜材料
5.老化试验后的失效器件界面层
ASTME1508-12(2020)电子探针定量分析方法
ISO3497:2020金属镀层厚度X射线光谱法
GB/T23414-2009微束分析术语规范
IEC60904-1:2020光伏器件测试标准
GB/T31985-2015太阳能电池电性能测试方法
ISO14707:2015辉光放电光谱表面分析
1.ThermoFisherNORANSystem7EDS:元素面分布成像(分辨率129eV)
2.BrukerD8ADVANCEXRD:织构与残余应力分析(CuKα辐射)
3.KLATencorP-7台阶仪:非接触式三维形貌重建(垂直分辨率0.1)
4.Keithley4200-SCS半导体分析仪:I-V/C-V特性曲线测试(电流分辨率10fA)
5.PerkinElmerLambda1050分光光度计:300-2500nm光谱响应测试
6.ZEISSCrossbeam550FIB-SEM:纳米尺度截面制备与观测
7.HORIBALabRAMHREvolutionRaman:共聚焦显微拉曼成像(空间分辨率200nm)
8.Agilent5500AFM:表面粗糙度定量分析(扫描范围90μm90μm)
9.OxfordInstrumentsPlasmaPro100GD-OES:深度剖析速率0.1-10μm/min
10.KeysightB1500A参数分析仪:瞬态光电特性测试(时间分辨率
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
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2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
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