北检院实验室进行的磷化铟检测,可为您提供合法合规且具有公信力的第三方检测报告、MSDS (Material Safety Data Sheet,化学品安全技术说明书),样品以及项目因为文章篇幅原因未全列出,有其他需求请咨询在线工程师!
磷化铟检测的方法主要包括以下几个方面:
1. X射线衍射法:通过照射样品并观察散射的X射线,可以确定磷化铟的晶体结构和晶体质量。这种方法可以用于检测磷化铟的物相纯度、晶型、杂质含量等。
2. 扫描电子显微镜(SEM):SEM可以观察样品表面的形貌和微观结构,通过比较磷化铟的形貌和微观结构与标准图像的差异,可以判断样品的质量和纯度。
3. 能谱仪:使用能谱仪可以测量磷化铟样品的能谱特性,如能带结构、能隙大小等。这些能谱特性可以用于判断样品的电学性质和半导体特性。
4. 傅里叶红外光谱法(FTIR):通过测量磷化铟样品在红外光谱范围内的吸收特性,可以推断样品的成分、结构和杂质含量。FTIR可以快速、非破坏性地检测样品。
5. 溶液浸磨法:将磷化铟样品浸泡在适当的溶液中,利用溶液中的化学反应或溶解作用,来判断样品的成分、纯度和杂质含量。这种方法适用于静电散射等薄膜样品。
GB/T 20230-2006 磷化铟单晶
本标准规定了n型,半绝缘型(Si),p型磷化铟单晶片的牌号,技术要求,试验方法,检验规则,以及标志,包装,运输,储存等。本标准适用于高压液封直拉法制备的磷化铟单晶材料。
GB/T 20230-2022 磷化铟单晶
本文件规定了磷化铟单晶的牌号、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存和随行文件及订货单内容。本文件适用于制作光电、微电器件用的磷化铟单晶锭及磷化铟单晶抛光片。
GB/T 36706-2018 磷化铟多晶
本标准规定了磷化铟多晶的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书及订货单(或合同)内容。本标准适用于生产磷化铟单晶用的磷化铟多晶。
SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
本标准规定了低位错密度磷化铟(InP)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。
SJ 3243-1989 磷化铟单晶棒及片
详情:暂无。
标准状态:已废止。
SJ 3244.1-1989 砷化镓和磷化铟材料霍尔迁移率和载流子浓度的测量方法
详情:暂无。
标准状态:已废止。
GB/T 20230-2006 磷化铟单晶
GB/T 20230-2022 磷化铟单晶
GB/T 36706-2018 磷化铟多晶
SJ 3243-1989 磷化铟单晶棒及片
SJ 3244.1-1989 砷化镓和磷化铟材料霍尔迁移率和载流子浓度的测量方法
SJ 3244.2-1989 砷化镓、磷化铟衬底与异质结外延层之间晶格失配的测量方法
SJ 3244.3-1989 砷化镓、磷化铟单晶晶向的测量方法
SJ 3244.4-1989 砷化镓和磷化铟材料载流子浓度剖面分布的测试方法-电化学电压电容法
SJ 3244.5-1989 砷化镓和磷化铟材料补偿度的测试方法
SJ 3245-1989 磷化铟单晶位错的测量方法
SJ 3248-1989 重掺砷化镓和磷化铟载流子浓度的红外反射测试方法
SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法
SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
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