检测项目1.层数测定:原子力显微镜(AFM)测量单层厚度0.3-0.8nm2.缺陷密度分析:拉曼光谱D/G峰强度比(ID/IG≤0.2)3.电导率测试:四探针法测量范围10-10⁶S/m4.比表面积测定:BET法测量2600-3000m/g5.元素纯度检测:XPS分析碳含量≥99.8%检测范围1.氧化石墨烯薄膜材料2.碳纳米管复合导电浆料3.锂离子电池石墨烯负极材料4.导热硅脂用三维碳烯填料5.柔性显示基板用透明导电膜检测方法1.ASTMD8289-20石墨烯薄片机械性能测试规程2.ISO/TS80004