不对称晶格检测

检测项目

1.晶格常数偏差测量：XRD测定单胞参数误差范围0.005
2.畸变角度分析：电子背散射衍射(EBSD)捕捉角度偏差0.1~5
3.原子位移量计算：高分辨透射电镜(HRTEM)解析位移精度达0.02nm
4.位错密度评估：同步辐射CT扫描分辨率≤50nm
5.非对称因子量化：拉曼光谱半峰宽变化率2%

检测范围

1.半导体材料：GaN外延层、SiC衬底等III-V/IV族化合物
2.金属合金：钛铝基高温合金、形状记忆合金(Ni-Ti)
3.陶瓷复合材料：ZrO₂-Al₂O₃梯度结构件
4.纳米结构材料：量子点阵列、二维过渡金属硫化物(TMDCs)
5.光学晶体材料：LiNbO₃非线性晶体、蓝宝石窗口片

检测方法

1.ASTME112-13：晶粒尺寸测定与统计分析方法
2.ISO24173:2009：电子背散射衍射取向分析规程
3.GB/T23414-2009：微束分析扫描电镜能谱定量通则
4.ASTMF1946-22：化合物半导体X射线衍射测试标准
5.GB/T36075-2018：纳米材料晶体结构透射电镜表征指南

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备HyPix-3000探测器，支持高/低角度同步扫描
2.FEINovaNanoSEM450场发射扫描电镜：集成EDAXOctaneElite能谱系统
3.JEOLJEM-ARM300F球差校正透射电镜：空间分辨率0.08nm
4.BrukerD8DiscoverGADDS微区XRD系统：最小光斑尺寸50μm
5.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器：采集速率≥3000点/秒
6.HORIBALabRAMHREvolution显微拉曼光谱仪：激光波长532/785nm可调
7.ZeissXradia620Versa三维X射线显微镜：体素分辨率500nm
8.Agilent5500原子力显微镜(AFM)：接触/轻敲模式切换精度0.1nN
9.MalvernPanalyticalEmpyrean多晶XRD平台：配备PIXcel3D探测器
10.ThermoFisherScios2DualBeamFIB-SEM系统：离子束切割精度5nm

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于不对称晶格检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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