1.线性度误差:测量范围0.1-1000μm时允许偏差≤0.5%FS
2.重复性误差:同一样品10次测量RSD<1.2%
3.分辨率验证:最小可识别单位0.01μm(光学法)或0.1μm(机械法)
4.边界识别精度:边缘定位误差≤2像素(数字图像法)
5.动态响应特性:采样频率≥200Hz时的数据丢失率<0.05%
1.电子元件:半导体芯片引脚间距/直径测量
2.机械零件:轴承滚珠直径分布统计
3.生物样本:血细胞计数与粒径分析
4.粉末材料:金属/陶瓷粉体粒度分布测定
5.光学器件:微透镜阵列表面缺陷识别
1.ASTME29-20:粒度分析的标准统计方法
2.ISO13322-1:2014:静态图像分析法颗粒表征
3.GB/T2828.1-2012:计数抽样检验程序
4.ISO9276-2:2014:粒度分析结果表述规范
5.GB/T19077-2016:激光衍射法粒度分析通则
1.KeyenceIM-8000系列图像尺寸测量仪:配备500万像素CMOS传感器,支持0.3μm级亚像素处理
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm,符合ISO13320标准
3.OlympusDSX1000数字显微镜:20-7000倍光学变焦系统集成自动计数模块
4.MitutoyoLH-600测长仪:接触式测量分辨率0.01μm,最大行程600mm
5.BeckmanCoulterMultisizer4e库尔特计数器:孔径管技术实现0.4-1600μm颗粒计数
6.HoribaLA-960激光散射仪:双波长光源系统(450nm/635nm)提升小颗粒灵敏度
7.ZeissAxioVert.A1倒置金相显微镜:搭配Axiocam305相机实现自动图像拼接分析
8.ShimadzuSALD-7500nano纳米粒度仪:动态光散射技术覆盖3nm-800μm测量范围
9.OGPSmartScopeFlash500多传感器系统:复合式测量(光学+探针)精度1.5μm+L/100μm
10.FritschAnalysette28动态图像分析系统:高速相机(200fps)捕获运动颗粒特征值
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
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