1.纯度分析:测定WO₃主成分含量≥99.9%,杂质元素(Fe、Mo、Ni等)≤0.01%
2.粒度分布:D50值控制在0.5-10μm范围,D90/D10比值≤3.0
3.比表面积:BET法测定比表面积1-20m/g
4.晶体结构:XRD分析晶型(单斜相/六方相),半峰宽≤0.2
5.热稳定性:TG-DSC联用测定分解温度≥800℃
1.钨酸盐原料:仲钨酸铵(APT)、偏钨酸铵(AMT)等前驱体转化产物
2.催化剂材料:SCR脱硝催化剂载体及改性WO₃复合材料
3.电致变色器件:锂离子嵌入型WO₃薄膜材料
4.陶瓷釉料:高温烧结用WO₃基色料体系
5.光电材料:钙钛矿太阳能电池中空穴传输层掺杂材料
1.GB/T4325-2013《钨化学分析方法》规定ICP-OES测定杂质元素
2.ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法》规范粒度分布测试
3.ASTMC1274-2010采用多点BET法测定比表面积
4.JCPDS卡片库(PDF#43-1035)比对XRD特征峰判定晶型
5.GB/T19421-2008《层状结晶二钨酸铵试验方法》指导热重分析
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:θ/θ测角仪精度0.0001,Cu靶Kα辐射
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm
3.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪:可测孔径0.35-500nm
4.PerkinElmerOptima8300ICP-OES:检出限达ppb级
5.NetzschSTA449F3同步热分析仪:最高温度1600℃
6.HitachiSU8010场发射电镜:分辨率1.0nm@15kV
7.AgilentCary5000紫外分光光度计:波长范围175-3300nm
8.Metrohm905Titrando电位滴定仪:精度0.001mL
9.ShimadzuEDX-7000X荧光光谱仪:可测元素B-U
10.MettlerToledoXPR6U微量天平:重复性0.002mg
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
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