G基站用高频ePTFE介质损耗测试

检测项目

电气性能检测：

• 介质损耗因数：tanδ≤0.0005(@10GHz，参照IEC60250)
• 介电常数：εr=2.0±0.05(频率1MHz-40GHz)
• 绝缘电阻：表面电阻≥1×10^15Ω(ASTMD257)

机械性能检测：

• 拉伸强度：纵向≥25MPa，横向≥20MPa(GB/T1040.3)
• 撕裂强度：埃尔门多夫法≥0.5N/mm(ASTMD1922)

热性能检测：

• 热变形温度：≥260℃(0.45MPa载荷，ISO75-2)
• 热导率：0.25W/m·K±0.02(稳态热流法)

环境可靠性检测：

• 耐湿热性：85℃/85%RH下tanδ变化率≤5%(1000小时)
• 耐UV老化：氙灯照射500小时，εr偏差±0.01

高频特性检测：

• S参数测试：回波损耗≤-20dB(@28GHz)
• 阻抗匹配：特性阻抗50Ω±1Ω(矢量网络分析仪法)

物理性能检测：

• 厚度均匀性：公差±2μm(厚度范围50-200μm)
• 密度：0.4-0.8g/cm³(浸液法，ASTMD792)

化学稳定性检测：

• 耐酸碱性：浸渍24小时，质量变化≤0.1%(浓硫酸、NaOH溶液)
• 溶剂抵抗性：甲苯浸泡后无溶胀(ASTMD543)

粘合性能检测：

• 剥离强度：≥1.5N/cm(与铜箔复合，IPC-TM-650)
• 粘接耐久性：热循环100次无分层(-40℃至+125℃)

尺寸稳定性检测：

• 热膨胀系数：CTE≤50ppm/℃(TMA法，ISO11359)
• 收缩率：热处理后≤0.1%(150℃/1小时)

透气性检测：

• 空气透过率：0.1-10L/m²·s(压差100Pa，ASTMD737)
• 孔径分布：平均孔径0.1-5μm(汞孔隙率法)

检测范围

1.纯ePTFE薄膜：厚度50-500μm，重点检测高频介电性能与厚度均匀性，确保基站天线信号传输效率

2.ePTFE复合基材：与玻璃纤维或陶瓷填充复合，侧重介电常数稳定性及机械强度评估

3.涂层ePTFE材料：表面导电涂层处理，检测涂层附着力及高频损耗特性

4.多层ePTFE层压板：用于PCB基板，重点评估层间粘合强度及热可靠性

5.微孔ePTFE透气膜：孔径可控型，检测透气性与介质损耗的平衡性能

6.高温烧结ePTFE：烧结工艺变异体，侧重结晶度对tanδ的影响分析

7.增强型ePTFE织物：纤维增强结构，检测抗拉伸性及环境老化后电气性能

8.柔性ePTFE电路材料：用于可穿戴设备，重点评估弯曲疲劳后的介电参数漂移

9.阻燃ePTFE复合材料：添加阻燃剂，检测阻燃等级(JianCe94V-0)及高频性能保持率

10.定制化ePTFE异形件：天线罩等部件，检测尺寸精度及全场介电均匀性

检测方法

国际标准：

• IEC60250:1969高频绝缘材料介电性能测试方法
• ASTMD150-18固体电绝缘材料AC损耗特性及介电常数标准测试
• ASTMD257-14绝缘材料直流电阻或电导测试
• ISO6721-1:2019塑料动态机械性能测定
• IPC-TM-6502.4.8.1基材剥离强度测试

国家标准：

• GB/T1409-2006固体绝缘材料高频介电性能测试
• GB/T1040.3-2006塑料拉伸性能试验
• GB/T2410-2008透明塑料透光率及雾度测定
• GB/T5470-2008塑料冲击脆化温度试验
• GB/T8808-1988软质复合剥离强度测定

方法差异说明：IEC60250与GB/T1409在电极系统配置上存在差异，IEC优先使用平行板电极，而GB允许使用coaxialcell；ASTMD150强调频率扫描步进精度(±1%)，而GB/T1409侧重恒温控制(±0.5℃)。高频S参数测试中，国际标准常用矢量网络分析仪法，国家标准则参考YD/T2808-2015移动通信基站材料测试规范。

检测设备

1.矢量网络分析仪：KeysightN5227B(频率范围10MHz-67GHz，动态误差±0.05dB)

2.高频介电测试系统：Agilent4291B(阻抗精度±0.5%，频率1MHz-1.8GHz)

3.电子万能试验机：Instron5965(载荷范围0.02kN-10kN，位移分辨率0.1μm)

4.热分析仪：TAInstrumentsQ800(DMA模式，温度范围-150℃至600℃)

5.恒温恒湿箱：ESPECSH-642(温度范围-70℃至150℃，湿度控制±2%RH)

6.紫外老化箱：Q-LABQUV/spray(UV波长340nm，辐照度0.68W/m²)

7.高阻计：Keithley6517B(电阻测量范围10^6至10^19Ω)

8.厚度测量仪：Mitutoyo543-252B(分辨率0.1μm，接触压力0.1N)

9.孔隙率分析仪：MicromeriticsAutoPoreV(压力范围0.1-60000psi)

10.光谱椭偏仪：J.A.WoollamM-2000(波长范围190-1700nm，膜厚测量精度±0.1nm)

11.热机械分析仪：NETZSCHTMA402F3(膨胀系数测量精度±0.05ppm/℃)

12.撕裂强度tester：Thwing-AlbertElmendorf(撕裂力范围0.1-64N)

13.氙灯耐候箱：AtlasCi4000(辐照度1.2W/m²@420nm，黑板温度控制±1℃)

14.阻抗分析仪：HiokiIM3590(频率DC至5MHz，基本精度±0.05%)

15.显微镜系统：OlympusBX53(放大倍率50-1000X，带图像分析软件)

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于G基站用高频ePTFE介质损耗测试相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、JianCe、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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