高纯碳化硅检测

检测项目

1.纯度分析：总杂质含量≤0.01%，非金属杂质(O、N)≤50ppm
2.晶体结构表征：晶格常数(a=3.0730.002)，六方相含量≥99.5%
3.元素定量分析：Al≤5ppm、Fe≤3ppm、B≤0.5ppm
4.粒度分布测试：D50值0.5-10μm可调，跨度系数＜1.2
5.表面形貌分析：晶粒尺寸偏差＜5%，表面缺陷密度≤10/cm

检测范围

1.单晶碳化硅衬底：4H/6H晶型半导体基片
2.多晶碳化硅陶瓷：烧结体密度≥3.10g/cm
3.碳化硅粉体：α相含量＞98%，比表面积2-20m/g
4.CVD碳化硅涂层：厚度10-500μm，结合强度＞50MPa
5.碳化硅复合材料：纤维体积分数30-60%，界面剪切强度≥15MPa

检测方法

1.ASTMC1375-18：化学分析法测定总金属杂质
2.ISO14703:2020：激光衍射法粒度分布测试
3.GB/T16555-2017：碳化硅耐火材料化学分析方法
4.GB/T25995-2020：精细陶瓷密度测试方法
5.JISR1639-2018：XRD定量相分析标准
6.SEMIMF1724-1109：半导体级碳化硅缺陷检测规范

检测设备

1.RigakuZSXPrimusIVX射线荧光光谱仪：全元素快速筛查
2.Agilent7900ICP-MS：超痕量元素分析(检出限0.1ppb)
3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：0.01-3500μm测量范围
4.HitachiSU5000场发射扫描电镜：1nm分辨率表面形貌观测
5.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：晶体结构精修分析
6.NetzschSTA449F3同步热分析仪：纯度热重法测定
7.KeysightE4990A阻抗分析仪：介电性能测试(1MHz-3GHz)
8.ShimadzuUV-3600iPlus紫外分光光度计：光学透过率测定
9.Instron5967万能材料试验机：三点弯曲强度测试(精度0.5%)
10.OxfordInstrumentsAZtecEnergyEDS系统：微区成分面分布分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于高纯碳化硅检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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