纯度测定:Sc(OH)3主含量≥99.5%(w/w),灼烧减量控制在8.5-9.2%
杂质元素分析:Fe≤50ppm、Al≤100ppm、Ca≤80ppm(ICP-MS法)
晶型结构表征:XRD检测六方晶系(PDF#45-0732),半峰宽≤0.15°(2θ=28.6°)
热分解特性:TG-DSC联用测定分解起始温度≥260℃,相变焓值150-180J/g
粒度分布:D50=3-5μm(激光衍射法),比表面积1.8-2.5m2/g(BET法)
高纯氢氧化钪原料:纯度≥99.9%的电子级原料,用于单晶生长
稀土复合催化剂:石化行业烷烃重整催化剂前驱体
光学镀膜材料:激光器件用Sc2O3镀膜原料
锂电池正极材料前驱体:镍钴锰酸锂掺杂改性剂
核能屏蔽材料:中子吸收复合材料基体
检测项 | 标准方法 | 技术参数 |
---|---|---|
元素定量 | ASTM D1976-20 | ICP-MS法检测限0.01ppm,RSD<2% |
晶体分析 | ISO 20203:2015 | Cu-Kα辐射(λ=1.5406Å),扫描速率2°/min |
热分析 | ASTM E1131-20 | 升温速率10℃/min,N2保护气流量50mL/min |
粒度测试 | ISO 13320:2020 | 干法分散压力0.5Bar,Obscuration范围10-15% |
Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS
配备SC-FAST自动稀释系统,实现0.1-10000ppm宽量程检测
Bruker D8 ADVANCE XRD
LynxEye阵列探测器,角度重复性±0.0001°,配备TOPAS结构精修软件
Mettler Toledo TGA/DSC 3+
超微量天平(0.1μg分辨率),支持同步质谱联用分析分解气体
Malvern Mastersizer 3000
双激光系统(λ=466nm/633nm),测量范围0.01-3500μm
PerkinElmer PinAAcle 900T
横向加热石墨炉,Zeeman背景校正,用于ppb级金属杂质检测
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