纳米粒子分散均匀度动态显微成像技术应用（JISK7244）

检测项目

形貌表征：

• 粒子形状分析：长宽比(AR≥1.2)、表面粗糙度(Ra≤0.1μm，参照ISO4287)
• 团聚结构：团聚体占比(≤5%，参照JISK7244)、空隙率(Vol%)

尺寸分析：

• 平均粒径：D50值(nm范围，参照ISO13322-1)、D90颗粒累积分布
• 粒径分布宽度：PDI(多分散指数，≤0.2，参照ISO22412)

均匀度评估：

• 分散均匀指数：U值(≥0.9，参照JISK7244)、浓度梯度偏差(CV≤10%)
• 聚集比例：团聚粒子数占比(≤3%)、局部密度变异系数

动态行为监测：

• 沉降速度：沉降速率(mm/s，参照ISO18747)
• 布朗运动：均方位移(MSD，μm²/s)、轨迹混乱度

浓度测定：

• 粒子数量浓度：个/mL(检测限10³/mL)、体积分数(Vol%)
• 固含率：固体质量分数(wt%，参照ASTMD7371)

稳定性测试：

• 分散稳定性指数：SI值(≥85%，参照JISK7244)
• Zeta电位：表面电荷(mV，绝对值≥30，参照ISO13099)

表面特性：

• 表面电荷密度：e/nm²、亲水性接触角(°)
• 吸附层厚度：nm级测量(参照ISO22412)

机械性能影响：

• 抗剪切性：粘度变化率(Δη%，参照ISO3219)
• 流变特性：剪切模量(G'Pa)

环境响应：

• 温度敏感性：分散均匀度随ΔT变化(℃⁻¹)
• pH影响：均匀度偏移(ΔU/pH单位)

光学特性：

• 光散射强度：散射角相关函数(参照ISO22412)
• 透光率：浊度(NTU，≤5，参照ISO7027)

检测范围

1.金属氧化物纳米粒子：涵盖二氧化钛(TiO2)及氧化锌(ZnO)，重点检测光催化分散均匀度和抗光致团聚性

2.碳基纳米材料：如碳纳米管(CNT)及石墨烯，侧重分散均匀度对电导率的影响及界面稳定性

3.聚合物纳米粒子：包括聚苯乙烯(PS)及聚乳酸(PLA)，检测重点为乳液分散均匀性和生物相容性变化

4.陶瓷纳米粒子：如氧化铝(Al2O3)及氮化硅(Si3N4)，聚焦高温烧结过程中的分散均匀度维持

5.磁性纳米粒子：如四氧化三铁(Fe3O4)，检测重点为磁场响应下的分散均匀度及聚集动力学

6.量子点材料：如硫化镉(CdS)及硒化铅(PbSe)，侧重光学均匀度及荧光衰减关联性

7.药物载体纳米粒子：如脂质体及聚合物胶束，检测重点为载药分散均匀度及释放速率稳定性

8.复合材料纳米填料：如纳米黏土及二氧化硅，聚焦界面分散均匀度对机械强度的贡献

9.环境纳米材料：如纳米零价铁(nZVI)，检测重点为水相分散均匀度及反应活性一致性

10.食品添加剂纳米粒子：如纳米乳化剂，侧重分散均匀度对口感和保质期的影响

检测方法

国际标准：

• ISO13322-1:2017粒度分析-图像分析法-第1部分：静态图像分析法(侧重离线样本分析，分辨率限制0.1μm)
• ISO22412:2017粒度分析-动态光散射法(DLS，适用于亚微米级，但无法实时成像)
• ISO13099:2012胶体系统-Zeta电位测定方法(电泳法，需辅助设备)

国家标准：

• JISK7244:2020纳米粒子分散均匀度测试-动态显微成像法(集成实时视频监测，帧率≥100fps，差异：允许原位动态评估)
• GB/T19077:2016粒度分布-激光衍射法(静态测量，不适用团聚动态监测)
• GB/T24369:2022纳米材料表征-电子显微镜法(需样本预处理，破坏性)

(方法差异说明：国际静态标准忽略时间维度，而JISK7244强化动态过程捕捉；GB标准侧重离线测量，与JIS实时性互补)

检测设备

1.高速显微成像系统：KeyenceVHX-7000(放大倍数5000x，帧率200fps)

2.激光粒度分析仪：MalvernMastersizer3000(粒径范围0.01-3500μm，精度±1%)

3.动态光散射仪：BrookhavenZetaPALS(Zeta电位范围-200至200mV，温度控制±0.1℃)

4.扫描电子显微镜：JEOLJSM-7900F(分辨率0.8nm，加速电压0.1-30kV)

5.透射电子显微镜：FEITecnaiG2F20(点分辨率0.14nm，放大倍数50-1000k)

6.原子力显微镜：BrukerDimensionIcon(扫描范围100μm，分辨率0.1nm)

7.紫外-可见分光光度计：ShimadzuUV-2700(波长范围190-900nm，带宽0.1nm)

8.流变仪：TAInstrumentsDHR-2(剪切速率0.01-1000s⁻¹，扭矩范围0.1μN·m-200mN·m)

9.离心沉降仪：CPSDiscCentrifugeDC24000(转速范围100-24000rpm，粒径精度±2%)

10.Zeta电位分析仪：MalvernZetasizerNanoZS(检测限0.3nm，电导率范围0-200mS/cm)

11.原位环境控制腔：LinkamLTS420(温度范围-196-420℃，湿度控制20-95%)

12.荧光显微系统：OlympusIX83(激发波长405-640nm，EMCCD灵敏度0.01lux)

13.纳米粒子计数器：Kanomax3440(粒径检测下限10nm，流量0.1-5L/min)

14.振动样品磁强计：LakeShore7400(磁场强度±3T，灵敏度10⁻6emu)

15.热重分析仪：NetzschSTA449F3(温度范围RT-1500℃，称重精度0.1μg)

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于纳米粒子分散均匀度动态显微成像技术应用（JISK7244）相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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