微粒物浓度检测:
1.硅晶圆表面:重点检测微粒物附着密度和粒径分布,确保无划痕或污染缺陷。
2.洁净室空气:监测悬浮颗粒物浓度及微生物含量,维持ISO洁净度等级。
3.光刻胶涂层:分析化学残留和微粒嵌入,防止图案失真。
4.蚀刻液残留:检测金属离子和有机物浓度,避免晶圆腐蚀。
5.设备内表面:评估粒子沉积和清洁度,保障制程稳定性。
6.人员防护服:验证粒子释放率和纤维脱落,控制人为污染。
7.包装材料:检查洁净度和挥发性物质,确保运输无污染。
8.化学试剂:测定杂质含量和纯度,符合半导体级标准。
9.超纯水系统:监控微粒物和离子浓度,防止水基污染。
10.气体供应系统:分析颗粒物和水分含量,确保气体纯净度。
国际标准:
1.激光粒子计数器:CLIMETCI-450型(检测粒径0.1μm-5μm,流量28.3L/min)
2.扫描电子显微镜:HITACHISU-8000型(分辨率1nm,放大倍率20-800,000x)
3.气相色谱质谱联用仪:AGILENT8890/5977B型(检测限0.1ppb,柱温范围-80°C至450°C)
4.微生物采样器:MERCKMAS-100型(流量100L/min,培养皿直径90mm)
5.温湿度传感器:VAISALAHMP155型(精度±0.1°C温度,±1%RH湿度)
6.压差计:DWYER477A-1型(量程0-250Pa,精度±0.5%)
7.表面粒子计数器:PMSLPC-101型(检测粒径≥0.3μm,采样面积10cm²)
8.实时监测系统:PARTICLEMEASURINGSYSTEMSAPMS-100型(多点采样,数据更新率1Hz)
9.超纯水分析仪:METTLERTOLEDOSevenExcellence型(电阻率≥18.2MΩ·cm,TOC≤1ppb)
10.气流速度计:TSI9535型(量程0-30m/s,精度±2%)
11.离子色谱仪:DIONEXICS-6000型(检测限0.1μg/L,流速0.2-5.0mL/min)
12.洁净度测试仪:LIGHTHOUSESolair3100型(粒径通道6个,流量50L/min)
13.防护服测试台:custom-built型(释放粒子计数,流量28.3L/min)
14.化学残留分析仪:PERKINELMERNexION350X型(ICP-MS技术,检测限0.01ppb)
15.气体分析仪:SIEMENSJianCeTRAMAT23型(O2、H2O检测,精度±0.1%)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是关于半导体晶圆车间微粒物含量测定及洁净度分级相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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