氧化铝基片检测

北京中科光析科学技术研究所进行的氧化铝基片检测，可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括：矽腈复合片、氮化硅基片、石墨烯基片、碳化硅基片、磁性玻璃；检测项目包括不限于表面粗糙度、表面平整度、表面污染、尺寸精度、平行度、垂直度等。

检测范围

检测项目

检测方法

检测仪器

国家标准

如果您需要指定相关标准，或要求非标测试、设计试验等，请与工程师联系！

GB/T 39863-2021  覆铜板用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14620-2013  薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14619-2013  厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14620-1993  薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14619-1993  厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

其他标准

行业标准

SJ/T 10243-1991   微波集成电路用氧化铝陶瓷基片

地方标准

暂无地方标准参考！

以上是关于氧化铝基片检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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