基本电气特性:
1. 晶体管输出光耦: 检测重点为CTR线性度、VCE(sat)漂移及低温启动特性
2. 可控硅输出光耦: 侧重触发电流(IGT≤500μA)、维持电流(IH≥5mA)及dV/dt耐受能力(≥1000V/μs)
3. 高速逻辑光耦: 验证传输延迟一致性、脉宽失真及CMTI性能
4. 栅极驱动光耦: 重点评估峰值输出电流(≥2.5A)、传输延时匹配(|tPLH-tPHL|≤100ns)
5. 模拟线性光耦: 检测非线性失真(THD≤0.1%)、增益温度系数(±50ppm/℃)
6. 固态继电器光耦: 验证负载端耐压(≥600V)、零交叉特性及热阻参数(RθJC≤35℃/W)
7. 光伏MOS输出光耦: 检测光伏输出电压(≥7V@10mA)、栅极充电时间(≤200μs)
8. IGBT驱动光耦: 评估欠压锁定(UVLO)阈值精度(±5%)、故障反馈响应时间(≤2μs)
9. 光纤耦合型光耦: 检测光纤插损(≤1.5dB)、抗弯曲疲劳特性
10. 工业总线隔离光耦: 验证电磁兼容性(RS-485接口共模抑制≥25kV/μs)、信号抖动(≤5ns)
国际标准:
1. 半导体参数分析仪: Keysight B1505A(电压分辨率1μV,电流分辨率10fA)
2. 高精度LCR测试仪: Wayne Kerr 6500B(频率范围20Hz-15MHz,基本精度0.05%)
3. 光耦综合测试系统: Chroma 19032(CTR测量范围0.1%-5000%,精度±0.5%)
4. 耐压绝缘测试仪: HIOKI ST5520(AC 6kV/DC 12kV,漏电流分辨率0.1nA)
5. 高速示波器: Tektronix MSO64(带宽6GHz,采样率25GS/s)
6. 脉冲发生分析仪: Advantest TAS5700(脉宽分辨率10ps,抖动测量精度±5ps)
7. 温度特性测试箱: ESPEC TSE-12A(温控范围-70℃~180℃,斜率±15℃/min)
8. 辐射强度校准系统: Newport 818-UV/DB(光谱范围250-1650nm,精度±1.5%)
9. 氦质谱检漏仪: INFICON LDS3000(最小可检漏率5×10⁻¹³ Pa·m³/s)
10. 静电放电模拟器: EM TEST DITO 2000(接触放电30kV,上升时间0.7ns)
11. 高低温冲击试验箱: THERMOTRON ATS-340(转换时间≤10s,温区-65℃~175℃)
12. 光电参数测试台: Labsphere LMS-700(光功率测量范围1nW-10W,不确定度±1.2%)
13. 热阻测试系统: T3Ster 设备分析仪(结温精度±0.1℃,热阻分辨率0.01K/W)
14. 振动试验系统: LDS V994(推力20kN,频率范围5-3000Hz)
15. 密封性测试仪: Uson ASM340(压力范围0-100psi,分辨率0.01cc/min)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是关于光藕检测相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。
2、我院对已出过的报告负责。
3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。
4、检测服务领域广,可参考标准多(国标、企标、通标、工标、国际标准等)。
5、周期短,费用低,方案全。
6、支持定制化试验方案,数据更加科学准确。
7、全国上门取样/现场见证试验。
8、资质全,团队强,后期服务体系完善
1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;
7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。
1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。