光藕检测

关键字:光藕测试仪器
所在栏目:材料检测实验室
发布时间:2025-06-30
信息来源:北检院
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检测项目

基本电气特性:

  • 输入特性:正向压降(VF≤1.3V@20mA)、反向漏电流(IR≤10μA@6V)
  • 输出特性:集电极-发射极饱和压降(VCE(sat)≤0.4V@5mA)、暗电流(ID≤100nA@30V)
传输特性:
  • 电流传输比(CTR:100%-400% @5mA,偏差±15%)
  • 响应时间:上升时间(tr≤3μs)、下降时间(tf≤4μs)
隔离特性:
  • 耐压强度:AC 3750Vrms/min(IEC 60747-5-5)
  • 绝缘电阻:RISO≥10¹¹Ω@500VDC
温度特性:
  • CTR温度系数(-0.5%/℃~+0.2%/℃)
  • 高温反向漏电流(IR≤50μA@6V/125℃)
开关特性:
  • 传输延迟(tPLH/tPHL≤18μs)
  • 脉冲失真度(≤10%@100kHz)
可靠性试验:
  • 高温高湿反偏:85℃/85%RH/VR=5V/1000h(JESD22-A101)
  • 温度循环:-55℃~125℃/1000 cycles(JESD22-A104)
光电参数:
  • LED辐射强度(Po≥15μW@20mA)
  • 探测器光电流(IL≥0.5mA@1mW/cm²)
EMC特性:
  • 共模瞬态抑制(CMTI≥25kV/μs)
  • 静电放电:接触放电±8kV(IEC 61000-4-2)
封装完整性:
  • 气密性检测:氦质谱检漏≤5×10⁻⁸ Pa·m³/s(MIL-STD-883 TM1014)
  • 内部水汽含量:≤5000ppm(J-STD-020)
寿命评估:
  • 长期电流衰减率(CTR衰减≤30%@1000h/50mA)
  • 开关寿命(≥1×10⁹ cycles@100Hz)

检测范围

1. 晶体管输出光耦: 检测重点为CTR线性度、VCE(sat)漂移及低温启动特性

2. 可控硅输出光耦: 侧重触发电流(IGT≤500μA)、维持电流(IH≥5mA)及dV/dt耐受能力(≥1000V/μs)

3. 高速逻辑光耦: 验证传输延迟一致性、脉宽失真及CMTI性能

4. 栅极驱动光耦: 重点评估峰值输出电流(≥2.5A)、传输延时匹配(|tPLH-tPHL|≤100ns)

5. 模拟线性光耦: 检测非线性失真(THD≤0.1%)、增益温度系数(±50ppm/℃)

6. 固态继电器光耦: 验证负载端耐压(≥600V)、零交叉特性及热阻参数(RθJC≤35℃/W)

7. 光伏MOS输出光耦: 检测光伏输出电压(≥7V@10mA)、栅极充电时间(≤200μs)

8. IGBT驱动光耦: 评估欠压锁定(UVLO)阈值精度(±5%)、故障反馈响应时间(≤2μs)

9. 光纤耦合型光耦: 检测光纤插损(≤1.5dB)、抗弯曲疲劳特性

10. 工业总线隔离光耦: 验证电磁兼容性(RS-485接口共模抑制≥25kV/μs)、信号抖动(≤5ns)

检测方法

国际标准:

  • IEC 60747-5-5:2020 分立器件-光电器件测试方法
  • JEDEC JESD22-A108F 温度循环试验
  • MIL-STD-750-1 半导体器件环境试验方法
  • IEC 61000-4-2:2008 静电放电抗扰度试验
国家标准:
  • GB/T 15651-2020 半导体器件 分立器件 光电子器件
  • GB/T 4937-2018 半导体器件机械和气候试验方法
  • GB/T 17626.2-2018 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
(方法差异说明:IEC 60747-5-5规定CTR测试需在25℃恒温箱进行,而GB/T 15651允许±2℃波动;MIL-STD-750要求温度循环速率≥10℃/min,GB/T 4937规定≥5℃/min)

检测设备

1. 半导体参数分析仪: Keysight B1505A(电压分辨率1μV,电流分辨率10fA)

2. 高精度LCR测试仪: Wayne Kerr 6500B(频率范围20Hz-15MHz,基本精度0.05%)

3. 光耦综合测试系统: Chroma 19032(CTR测量范围0.1%-5000%,精度±0.5%)

4. 耐压绝缘测试仪: HIOKI ST5520(AC 6kV/DC 12kV,漏电流分辨率0.1nA)

5. 高速示波器: Tektronix MSO64(带宽6GHz,采样率25GS/s)

6. 脉冲发生分析仪: Advantest TAS5700(脉宽分辨率10ps,抖动测量精度±5ps)

7. 温度特性测试箱: ESPEC TSE-12A(温控范围-70℃~180℃,斜率±15℃/min)

8. 辐射强度校准系统: Newport 818-UV/DB(光谱范围250-1650nm,精度±1.5%)

9. 氦质谱检漏仪: INFICON LDS3000(最小可检漏率5×10⁻¹³ Pa·m³/s)

10. 静电放电模拟器: EM TEST DITO 2000(接触放电30kV,上升时间0.7ns)

11. 高低温冲击试验箱: THERMOTRON ATS-340(转换时间≤10s,温区-65℃~175℃)

12. 光电参数测试台: Labsphere LMS-700(光功率测量范围1nW-10W,不确定度±1.2%)

13. 热阻测试系统: T3Ster 设备分析仪(结温精度±0.1℃,热阻分辨率0.01K/W)

14. 振动试验系统: LDS V994(推力20kN,频率范围5-3000Hz)

15. 密封性测试仪: Uson ASM340(压力范围0-100psi,分辨率0.01cc/min)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

以上是关于光藕检测相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广,可参考标准多(国标、企标、通标、工标、国际标准等)。

5、周期短,费用低,方案全。

6、支持定制化试验方案,数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全,团队强,后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;

2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;

4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;

3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;

5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;

7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;

2、双方签订委托书,我方接收样品;

3、进行细节沟通,我方进行试验测试;

4、试验测试完成,出具检测测试报告;

5、委托完成,我方提供售后服务。

检测流程

检测仪器(部分)

实验仪器

实验仪器-手机

合作客户(部分)

合作客户

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