热稳定性分析:TGA(热重分析)测定5%质量损失温度(≥280℃),动态热机械分析(DMA)测定玻璃化转变温度(Tg≥180℃)
力学性能测试:拉伸强度(≥80MPa,ASTM D638)、断裂伸长率(≥5%,ISO 527-3)、弹性模量(≥3.5GPa)
介电特性检测:体积电阻率(≥1×1015Ω·cm,IEC 60093)、介电常数(3.2±0.2@1MHz,ASTM D150)
耐化学性评估:酸碱溶液(10%HCl/NaOH浸泡24h质量变化率≤3%,ISO 175)
表面特性分析:接触角(≥100°,ISO 27448)、表面粗糙度(Ra≤0.5μm,ISO 4287)
环氧树脂薄膜:覆铜板基材、半导体封装材料
聚酰亚胺薄膜:柔性电路板、航天器热控层
酚醛树脂薄膜:摩擦材料基体、耐高温绝缘层
双马来酰亚胺薄膜:航空复合材料预浸料
氰酸酯树脂薄膜:高频电路基板、雷达透波材料
热分析:ISO 11357(DSC/TGA)、ASTM E831(CTE测定)
力学测试:ASTM D882(薄膜拉伸)、ISO 178(弯曲性能)
电学测试:IEC 60250(介电常数)、ASTM D257(体积电阻)
化学分析:ISO 175(耐化学试剂)、ASTM D543(耐溶剂性)
微观表征:ISO 21363(纳米颗粒分析)、ASTM E2109(FTIR鉴定)
热分析系统:TA Q500 TGA(0.1μg分辨率,RT~1000℃)
力学试验机:Instron 5967(100N载荷,0.5%精度)
介电谱仪:Novocontrol Alpha-A(10-4~107Hz)
表面分析仪:Bruker ContourGT-K 3D光学轮廓仪(0.1nm垂直分辨率)
电镜系统:FEI Nova NanoSEM 450(1nm分辨率,EDS能谱)
认可实验室(注册号L1234),通过ISO/IEC 17025体系认证
配备ASTM/ISO/IEC标准方法验证数据库(覆盖300+检测标准)
具备NADCAP热分析特殊过程认证资质
拥有温度-湿度-振动三综合试验系统(-70℃~180℃,10~2000Hz)
数据管理系统符合21 CFR Part 11电子记录规范要求
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