谱线增宽检测

检测项目

半峰全宽(FWHM)：测量谱线强度最大值的50%处对应的波长范围(单位：nm或cm⁻¹)

峰值波长位移：记录主峰波长相对于理论值的偏移量(精度±0.01 nm)

线宽分布均匀性：计算多点测量结果的相对标准偏差(RSD＜3%)

洛伦兹/高斯分量占比：通过Voigt函数拟合确定线型特征(拟合优度R²≥0.995)

温度依赖性分析：测定-196℃~300℃温区内谱线展宽系数(步长±5℃)

检测范围

半导体材料：GaN、SiC外延片及量子阱结构

光学薄膜：增透膜、高反射膜、滤光片镀层

激光晶体：Nd:YAG、Ti:Sapphire等掺杂晶体

光纤材料：单模/多模光纤纤芯与包层界面

荧光材料：量子点、稀土掺杂发光材料

检测方法

ASTM E275-08：紫外、可见和近红外光谱仪性能验证

ISO 13142:2015：激光光谱线宽测量方法

GB/T 32213-2015：拉曼光谱法测定纳米材料晶格应变

GB/T 36082-2018：半导体材料光致发光谱测试规范

ISO 18473-3:2019：功能薄膜光谱特性测试

检测设备

Horiba iHR550光谱仪：分辨率0.02 nm，光谱范围200-5000 nm

Zygo Verifire激光干涉仪：波长稳定性±0.001 nm，用于应力诱导展宽分析

Thermo Nicolet iS50傅里叶变换红外光谱仪：波数精度±0.01 cm⁻¹

Bruker Dimension Icon原子力显微镜：纳米尺度表面形貌关联分析

Malvern Zetasizer Nano ZS：动态光散射法测定胶体体系线宽

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于谱线增宽检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

上一篇：汽水混合物检测
下一篇：平衡催化剂检测

本文地址：https://www.beijianceshi.com/bjcs-info/15083.html