低能电子衍射仪检测

检测项目

表面晶格常数测定：测量精度±0.01 Å，能量范围50-300 eV

表面重构分析：检测超晶格周期(0.1-2 nm)，衍射斑点强度比误差≤2%

薄膜外延质量评估：晶格失配度检测(0.01%-5%)，角度分辨率±0.3°

缺陷密度检测：表面台阶密度(10³-10⁷ cm⁻²)，电子束入射角5°-90°

动态表面过程监测：时间分辨率0.1-10 s/帧，真空度≤5×10⁻⁹ Torr

检测范围

金属单晶表面：包括铜(111)、铝(100)等低指数晶面

半导体材料：硅(Si)、砷化镓(GaAs)等III-V族化合物表面

氧化物薄膜：氧化铝(Al₂O₃)、二氧化钛(TiO₂)等外延层

催化剂表面：铂(Pt)、钯(Pd)等纳米颗粒负载体系

二维材料：石墨烯、二硫化钼(MoS₂)等层状结构

检测方法

ASTM E2865-12(2020)：表面电子衍射定量分析标准指南

ISO 18118:2015：表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱

GB/T 19501-2013：电子背散射衍射分析方法通则

GB/T 30704-2014：微束分析-电子探针显微分析导则

ISO 16700:2016：微束分析-扫描电子显微镜校准指南

检测设备

SPECS ErLEED 150：四栅极设计，能量范围10-500 eV，配备CCD成像系统(2048×2048像素)

Omicron LEED III：半球形分析器，角度分辨率±0.2°，真空兼容性≤2×10⁻¹⁰ mbar

STAIB LEED 2000：可编程电子枪(0-5 keV)，配备快速加热样品台(RT-1500℃)

VG Scienta R-LEED：反光式设计，工作距离50-200 mm，斑点尺寸调节范围0.1-2 mm

Kimball Physics ELG-2：电子枪束流稳定性±0.1%，能量分散度≤0.5 eV@100 eV

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于低能电子衍射仪检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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