化学分析电子能电子能谱谱学检测

检测项目

表面元素分析：检测范围Li-U，检测深度2-10nm，灵敏度≥0.1at%

化学态分析：结合能分辨率±0.02eV，峰位重复性误差≤0.1eV

深度剖析：Ar+溅射速率0.1-10nm/min(SiO2标样)，深度分辨率≤5%

价带谱分析：能量范围0-50eV，采集步长0.05eV

污染层检测：碳污染层厚度检测精度±0.3nm(参照NPL标准样品)

检测范围

金属材料：不锈钢表面钝化膜、铝合金氧化层、镀层界面分析

半导体器件：晶圆表面污染物、栅极介质层成分、III-V族化合物界面

高分子材料：聚合物表面改性层、添加剂分布、老化产物分析

陶瓷与玻璃：釉面成分分析、晶界偏析物检测、高温腐蚀产物表征

生物材料：植入体表面涂层、蛋白质吸附层、生物矿化界面研究

检测方法

X射线光电子能谱(XPS)：ISO 20903:2019表面化学分析标准，GB/T 30705-2014微束分析技术规范

俄歇电子能谱(AES)：ASTM E827-21俄歇分析标准方法，GB/T 26533-2020俄歇谱仪校准规范

角分辨XPS(ARXPS)：ISO 19830:2015非破坏性深度剖析标准

单色化XPS：ASTM E2108-16单色X射线源性能验证方法

离子散射谱(ISS)：DIN 50583:2018表面成分深度剖析技术规范

检测设备

Thermo Scientific K-Alpha+：配备微聚焦单色Al Kα源(1486.6eV)，空间分辨率≤30μm

PHI VersaProbe III：多模式XPS系统，集成20kV氩离子枪，深度剖析误差<3%

ULVAC-PHI Quantera II：高灵敏度SXES探测器，检测限达5×10^18 atoms/cm³

Specs Phoibos 150：半球形分析器，能量分辨率<0.45eV@Ag 3d5/2

Kratos AXIS Supra+：同步辐射兼容系统，角度分辨模式角度精度±0.1°

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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