旋转角度精度:测量范围±0.001°,重复性误差≤0.0005°
轴向偏移量:检测分辨率0.1μm,最大允许偏差±2μm
频率稳定性:20Hz~10MHz,温度波动±0.1℃时漂移≤1ppm
热漂移系数:-50℃~150℃温控,热膨胀系数测量精度±0.02×10⁻⁶/K
表面粗糙度:Ra检测范围0.01~1.6μm,采用白光干涉法
单晶硅:半导体晶圆、光伏基片
石英晶体:振荡器基片、光学窗口
蓝宝石衬底:LED外延片、传感器基板
铌酸锂晶体:声表面波器件、光调制器
碳化硅晶圆:功率器件基材、射频模块
ASTM F534-19:硅晶体缺陷检测规范
ISO 14707:2021:晶体表面形貌非接触测量法
GB/T 1555-2020:单晶材料定向技术条件
GB/T 16525-2017:晶体缺陷X射线检测通则
ISO 1302:2020:表面粗糙度参数测定标准
Zygo Verifire MST:激光干涉仪,角度分辨率0.0001°
Keysight E5063A:网络分析仪,频率精度±0.5ppm
Bruker D8 Discover:X射线衍射仪,角度重复性±0.0001°
Mitutoyo Crysta-Apex S:坐标测量机,空间精度(1.2+L/400)μm
TA Instruments Q400:热机械分析仪,控温速率0.01~50℃/min
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是关于晶体旋转检测相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。
2、我院对已出过的报告负责。
3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。
4、检测服务领域广,可参考标准多(国标、企标、通标、工标、国际标准等)。
5、周期短,费用低,方案全。
6、支持定制化试验方案,数据更加科学准确。
7、全国上门取样/现场见证试验。
8、资质全,团队强,后期服务体系完善
1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;
7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。
1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。