低原子序数检测

检测项目

元素成分分析(C、O、Al等，检测范围：0.1%-99.9%)

薄膜厚度测量(分辨率：0.1 nm，范围：1 nm-10 μm)

材料密度测定(误差≤0.01 g/cm³，范围：0.5-5.0 g/cm³)

表面形貌表征(横向分辨率：1 nm，纵向分辨率：0.1 nm)

界面结合强度测试(载荷范围：0.1-50 N，精度±0.5%)

检测范围

聚合物薄膜(如PET、PI，厚度≤200 μm)

轻合金材料(铝基、镁基合金，成分偏差≤0.5%)

陶瓷涂层(Al₂O₃、SiC涂层，厚度10-500 μm)

生物可降解材料(PLA、PCL，纯度≥99%)

半导体封装材料(环氧树脂、硅胶，密度1.1-1.3 g/cm³)

检测方法

X射线光电子能谱法(XPS)：ISO 15472，GB/T 19500

能量色散X射线光谱法(EDS)：ASTM E1508，GB/T 17359

椭圆偏振光谱法(SE)：ASTM E1792，ISO 14707

原子力显微镜法(AFM)：ISO 11039，GB/T 31227

纳米压痕法(Nanoindentation)：ISO 14577，GB/T 21838

检测设备

Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪(元素分析深度≤10 nm)

Zeiss Sigma 500场发射扫描电镜(分辨率0.8 nm @15 kV)

Horiba UVISEL 2椭圆偏振仪(波长范围190-2100 nm)

Bruker Dimension Icon原子力显微镜(扫描范围90 μm×90 μm)

Agilent G200纳米力学测试系统(最大载荷500 mN)

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于低原子序数检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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