方块电阻(Sheet Resistance):测量范围0.1 mΩ/sq~10 MΩ/sq,精度±1%
表面均匀性(Uniformity):局部偏差≤±3%,全域偏差≤±5%
温度系数(TCR):-50℃~200℃范围内测量精度±0.5%/℃
接触电阻(Contact Resistance):四线法测量分辨率0.01 μΩ·cm²
膜厚相关性(Thickness Correlation):结合椭偏仪数据验证R=ρ/t关系式
半导体材料:硅片(单晶/多晶)、砷化镓(GaAs)、碳化硅(SiC)基板
导电薄膜:ITO(氧化铟锡)、AZO(铝掺杂氧化锌)、石墨烯涂层
光伏材料:PERC电池发射极、HJT非晶硅层
柔性电子:银纳米线网格、PEDOT:PSS有机导电膜
金属镀层:磁控溅射铝/铜薄膜、化学镀镍层
四探针法:ASTM F84-20《半导体材料电阻率测试标准》、GB/T 1551-2021《硅单晶电阻率测定方法》
范德堡法:ISO 1853:2018《导电橡胶体积电阻率测量》
非接触涡流法:IEC 60404-13:2018《磁性材料薄层阻抗测试》
扩展电阻分析:SEMI MF525-0317《晶圆掺杂浓度测试规范》
微波阻抗谱法:GB/T 35031-2018《微波频段薄膜电阻测试通则》
四探针测试系统:Four Dimensions Model 2800(支持0.01μΩ~100MΩ量程)
非接触式涡流仪:Lucas Labs 302系列(频率范围10kHz~10MHz)
高低温探针台:Cascade Summit 12000B(温控范围-65℃~300℃)
纳米级接触分析仪:Keithley 4200A-SCS(最小接触压力0.1mN)
微波阻抗分析仪:Keysight N5247B(频率覆盖10MHz~67GHz)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
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