阈值电压(Vth)测量:范围±20V@25℃,精度±0.1mV
漏电流(Ioff)测试:1nA-100μA@Vds=1.1Vnom
亚阈值摆幅(SS)分析:60-120mV/dec@Vgs扫描步长10mV
栅极泄漏电流(Ig)监测:≤1pA/μm@Vgs=2×Vdd
温度依赖性测试:-55℃至150℃温控±0.5℃
硅基CMOS器件(28nm-180nm制程节点)
氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管
三维FinFET结构器件
有机薄膜晶体管(OTFT)
二维材料器件(MoS2/WSe2基晶体管)
ASTM F1248-16:栅极氧化物完整性测试规范
ISO 16700:2019:微束分析-场发射扫描电镜操作规程
GB/T 17573-2021:半导体器件分立器件和集成电路第1部分总则
GB 4937-2023:半导体器件机械和气候试验方法
JEDEC JESD22-A114F:静电放电敏感度测试
Keysight B1500A半导体器件分析仪:支持10fA分辨率I-V/C-V测试
Cascade Summit 12000探针台:配备真空吸附温控模块(-70℃~300℃)
Keithley 4200A-SCS参数分析系统:集成脉冲IV模块(100ns脉宽)
Agilent 4156C精密源表:支持4象限电压源输出(±100V/±100mA)
Tektronix DMM7510高阻计:7½位数显分辨率(10MΩ~10PΩ量程)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。
2、我院对已出过的报告负责。
3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。
4、检测服务领域广,可参考标准多(国标、企标、通标、工标、国际标准等)。
5、周期短,费用低,方案全。
6、支持定制化试验方案,数据更加科学准确。
7、全国上门取样/现场见证试验。
8、资质全,团队强,后期服务体系完善
1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;
7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。
1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。