非极性半导体检测

检测项目

1.载流子浓度：采用霍尔效应测试仪测量(1e14-1e18cm⁻)
2.禁带宽度：紫外-可见分光光度法测定(0.7-6.2eV)
3.迁移率：变温霍尔测试系统分析(50-2000cm/(Vs))
4.缺陷密度：深能级瞬态谱仪检测(≤1e12cm⁻)
5.热导率：激光闪射法测量(20-2000W/(mK))

检测范围

1.GaN基功率半导体晶圆(直径≤200mm)
2.SiC外延片(4H/6H晶型)
3.ZnO透明导电薄膜(厚度50-500nm)
4.金刚石薄膜半导体材料(晶粒尺寸≤10μm)
5.GaAs基微波器件芯片(工作频率≤100GHz)

检测方法

1.ASTMF76：霍尔效应参数标准测试规程
2.ISO14887：紫外-可见吸收光谱法测定禁带宽度
3.GB/T15519：半导体材料电阻率测试规范
4.ASTME1461：激光闪射法热扩散系数测定
5.GB/T13301：X射线衍射法定量分析晶体结构

检测设备

1.LakeShore8400系列霍尔效应测试系统(载流子浓度/迁移率)
2.PerkinElmerLambda950紫外-可见分光光度计(禁带宽度分析)
3.HitachiSU5000场发射扫描电镜(表面形貌/缺陷观测)
4.BrukerD8AdvanceX射线衍射仪(晶体结构表征)
5.NetzschLFA467HyperFlash激光导热仪(热导率测试)
6.KeysightB1500A半导体参数分析仪(I-V/C-V特性测试)
7.OxfordInstrumentsMicroSenseCVMap电容电压测试系统
8.ThermoScientificNicoletiS50傅里叶红外光谱仪(杂质分析)
9.Agilent4294A精密阻抗分析仪(介电性能测试)
10.VeecoDimensionIcon原子力显微镜(纳米级表面粗糙度测量

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于非极性半导体检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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