1. 平均晶粒尺寸测定:测量范围0.1-500μm,精度±0.05μm
2. 晶界密度计算:单位面积晶界长度测量(μm/μm²)
3. 晶粒形状系数分析:长宽比1:1至10:1量化评估
4. 界面结合强度测试:载荷范围0.1-50kN,分辨率0.01N
5. 晶粒取向分布统计:欧拉角测量精度±0.1°
1. 金属合金:包括铝合金(AA2024/7075)、钛合金(Ti-6Al-4V)等锻轧件
2. 陶瓷材料:氧化锆(3Y-TZP)、碳化硅(SiC)等烧结体
3. 复合材料:碳纤维/环氧树脂层压板(CFRP)界面
4. 半导体材料:单晶硅(100/111晶向)外延层
5. 涂层材料:热障涂层(YSZ)与基体结合界面
ASTM E112-13:标准晶粒度测定与统计方法
ISO 643:2019:钢的奥氏体晶粒度显微测定法
GB/T 6394-2017:金属平均晶粒度测定法
ISO 24173:2009:电子背散射衍射(EBSD)取向分析
GB/T 228.1-2021:金属材料拉伸试验方法(界面结合强度)
1. ZEISS Sigma 500场发射扫描电镜:分辨率0.8nm@15kV,配备EBSD探测器
2. Oxford Instruments Symmetry S2 EBSD系统:采集速度3000点/秒
3. Shimadzu AGS-X系列万能试验机:最大载荷300kN,精度±0.5%
4. Leica DM2700M金相显微镜:最大放大倍数1000×
5. Bruker D8 DISCOVER X射线衍射仪:角度重复性±0.0001°
6. Keyence VHX-7000数字显微镜:3D表面重建功能
7. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm
8. FEI Scios 2 DualBeam聚焦离子束系统:定位精度±5nm
9. Hitachi HF5000透射电镜:点分辨率0.19nm
10. Mitutoyo SJ-410表面轮廓仪:纵向分辨率0.01μm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;
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1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
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5、委托完成,我方提供售后服务。