1. 结电容(Cj)测量:0.5pF-500pF范围@1MHz/4V偏压
2. 反向击穿电压(VBR):10-200V@100μA漏电流条件
3. 品质因数(Q值):50-2000@100MHz测试频率
4. 温度特性:ΔCj≤±15%(-55℃~+125℃)
5. 漏电流(IR):≤10nA@80%额定VR
1. 硅基超突变结变容二极管(1SV系列)
2. GaAs微波变容二极管(MA4系列)
3. 表面贴装型(SMD)调谐二极管
4. PIN结构电压控制器件
5. 高温军用级变容器件(-65℃~+175℃)
GB/T 6571-2018《半导体器件分立器件测试方法》第4.3节电参数测试
IEC 60747-1:2022半导体器件通用规范第7章动态特性测试
JEDEC JESD282B.01电容-电压特性测量规程
MIL-STD-750F方法3017反向特性测试
SJ/T 11498-2015微波二极管测试规范
1. Keysight B1505A功率器件分析仪:C-V/I-V曲线扫描
2. Agilent 4294A精密阻抗分析仪:0.05pF分辨率电容测量
3. Tektronix PA3000功率分析仪:动态Q值测试
4. ThermoStream T-2600温控系统:-70℃~+225℃环境模拟
5. Keithley 2636B源表:nA级漏电流测量
6. R&S ZNB40矢量网络分析仪:10MHz~40GHz高频参数测试
7. ESPEC SH-642恒温恒湿箱:85℃/85%RH可靠性试验
8. HIOKI IM3590化学阻抗计:介质损耗角测量
9. Chroma 19032耐压测试仪:0-3kV绝缘强度验证
10. MPI TS200-THZ探针台:晶圆级参数提取
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
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1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;
2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;
4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;
3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;
5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;
7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。
1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。