晶闸管检测

关键字:晶闸管测试机构,晶闸管测试仪器,晶闸管测试周期
所在栏目:材料检测实验室
发布时间:2025-06-07
信息来源:北检院
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检测项目

电气性能检测:

  • 阻断特性:正向阻断电压(VDRM≥600V)、反向阻断电压(VRRM≥600V,参照IEC60747-6)
  • 触发特性:栅极触发电流(IGT≤50mA)、保持电流(IH≥10mA)
  • 导通压降:正向压降(VF≤1.5V)
热特性检测:
  • 热阻测量:结壳热阻(RthJC≤1.0K/W)、散热性能
  • 结温测试:最大工作结温(Tj≤150°C)
  • 热循环耐久性:温度循环次数(≥1000次)
动态特性检测:
  • 开关时间:开通时间(Ton≤1μs)、关断时间(Toff≤10μs)
  • dv/dt耐量:临界电压上升率(≥100V/μs)
  • di/dt耐量:临界电流上升率(≥100A/μs)
可靠性检测:
  • 寿命测试:平均无故障时间(MTTF≥100,000小时)
  • 高温老化:125°C下连续工作测试(≥1000小时)
  • 高湿测试:85°C/85%RH条件下绝缘性能
机械性能检测:
  • 引脚强度:拉力测试(≥5N)
  • 封装完整性:气密性检测(泄漏率≤1×10⁻⁸Pa·m³/s)
  • 焊接可靠性:焊点剪切力(≥20N)
环境适应性检测:
  • 温度循环试验:-40°C至+125°C范围循环(≥500次)
  • 振动测试:频率5-2000Hz,加速度10g(≥2小时)
  • 冲击测试:半正弦波冲击(150g峰值,6ms)
电磁兼容性检测:
  • 干扰发射:传导骚扰(EN55032ClassB)
  • 抗干扰能力:静电放电(ESD±8kV,参照IEC61000-4-2)
  • 辐射耐受性:射频场抗扰度(10V/m)
安全性能检测:
  • 绝缘电阻:端子间绝缘电阻(≥100MΩ)
  • 耐压测试:交流耐压(≥2500VAC)
  • 漏电流:最大泄漏电流(≤1mA)
失效分析检测:
  • 微观结构分析:晶格缺陷评级(参照MIL-STD-883)
  • 电性能退化:参数漂移量(≤10%)
  • 热失效机制:热点定位及分析
光学特性检测:
  • 光触发响应:光控晶闸管触发光强(≤10mW/cm²)
  • 波长灵敏度:响应波长范围(850-950nm)
  • 光效率:光电转换效率(≥80%)

检测范围

1.单向晶闸管(SCR):涵盖平板型和螺栓型结构,检测重点为阻断电压参数及触发特性稳定性。

2.双向晶闸管(TRIAC):适用于交流开关应用,侧重双向导通特性验证和dv/dt耐量测试。

3.门极可关断晶闸管(GTO):高压大功率器件,重点检测关断能力及动态开关损耗。

4.集成门极换流晶闸管(IGCT):逆变器应用核心,检测集成驱动电路兼容性及热管理性能。

5.光控晶闸管:光电耦合器件,检测光触发灵敏度及绝缘隔离特性。

6.高频晶闸管:开关电源专用,侧重开关速度优化及电磁干扰抑制。

7.大功率晶闸管模块:多芯片封装结构,检测电气隔离强度及散热均匀性。

8.快速晶闸管:高速开关应用,重点验证开通/关断时间精度及di/dt耐量。

9.逆导晶闸管:反向导通类型,检测反向恢复特性及能耗效率。

10.晶闸管阵列:模块化集成器件,检测并联均流特性及可靠性冗余。

检测方法

国际标准:

  • IEC60747-6半导体器件-分立器件-第6部分:晶闸管测试方法(涵盖电气参数定义差异)
  • IEC60749-25半导体器件-机械和气候试验方法(温度循环测试条件差异)
  • MIL-STD-750半导体器件测试方法(热阻测量标准差异)
  • ISO16750-4道路车辆-电气装备环境条件(振动测试参数差异)
  • JESD22-A108温度循环测试(循环次数标准差异)
国家标准:
  • GB/T18910.1-2019半导体器件第10-1部分:分立器件总规范(触发电流测试方法差异)
  • GB/T2423.22-2012电工电子产品环境试验(温度变化速率要求差异)
  • GB/T17626.2-2018电磁兼容试验和测量技术(静电放电试验等级差异)
  • GB4943.1-2011信息技术设备安全(耐压测试电压限值差异)
  • GB/T14598.27-2017继电器试验方法(开关时间测量参数差异)

检测设备

1.高精度数字万用表:KEITHLEY2100型(电压量程0.1mV-1000V,精度±0.05%)

2.热成像仪:FLIRT865型(温度范围-40°C至2000°C,分辨率0.02°C)

3.示波器:KeysightDSOX1204G型(带宽200MHz,采样率5GS/s)

4.半导体参数分析仪:AgilentB1500A型(电流范围1pA-1A,电压0-200V)

5.环境试验箱:ESPECPL-3K型(温度范围-70°C至180°C,湿度范围10%-98%RH)

6.振动测试系统:LDSV875型(频率范围5-3000Hz,最大载荷100kg)

7.热阻测试仪:T3Ster型(结温测量精度±0.1°C,热流量程0.1-100W)

8.高压测试仪:HIPOTRONICSDC-100型(输出电压0-100kV,漏电流分辨率0.1μA)

9.功率分析仪:YOKOGAWAWT3000型(功率精度±0.1%,频率范围DC-100kHz)

10.电磁兼容测试系统:Rohde&SchwarzESU40型(频率范围9kHz-40GHz,场强精度±3dB)

11.开关特性测试仪:TektronixAFG31000型(脉冲上升时间≤1ns,负载电流0-100A)

12.显微镜系统:OlympusBX53M型(放大倍数50-1000X,分辨率0.5μm)

13.温度循环试验机:ThermotronARX-180型(温度变化速率≥10°C/min)

14.绝缘电阻测试仪:KYORJianCeU3157型(测试电压100-1000V,电阻范围10kΩ-10TΩ)

15.光电测试平台:Newport818系列(光强范围0.1-1000mW/cm²,波长精度

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

以上是关于晶闸管检测相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询在线工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系,科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广,可参考标准多(国标、企标、通标、工标、国际标准等)。

5、周期短,费用低,方案全。

6、支持定制化试验方案,数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全,团队强,后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断:包括失效分析、科学诊断、数据验证等,可以快速检测出产品问题,尽快止损;

2、其他鉴定服务:协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析;

4、研发使用:试验经验丰富,试验设备多,为科研工作提供数据支持;

3、高校论文:提供研究性实验数据、分析服务,给论文提供科学依据;

5、投标:检测周期短,准确性高,出具的第三方检测报告合法合规;

7、控制材料质量,进行产品内控,降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;

2、双方签订委托书,我方接收样品;

3、进行细节沟通,我方进行试验测试;

4、试验测试完成,出具检测测试报告;

5、委托完成,我方提供售后服务。

检测流程

检测仪器(部分)

实验仪器

实验仪器-手机

合作客户(部分)

合作客户

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