光耦合器检测

检测项目

1.绝缘电阻测试：测试电压500VDC时输入/输出端间电阻≥10^11Ω

2.电流传输比(CTR)测量：输入电流10mA条件下输出端电流偏差≤15%

3.响应时间分析：上升时间≤3μs(IF=10mA,VCC=5V)

4.隔离耐压试验：AC3750V/1min无击穿放电现象

5.温度特性验证：-40℃至+125℃范围内CTR变化率≤20%

检测范围

1.晶体管输出型光耦合器(如PC817系列)

2.高速逻辑门输出光耦(6N137/6N138系列)

3.可控硅输出型光耦(MOC3021/MOC3041系列)

4.线性光耦(HCNR201/HCNR200系列)

5.智能功率模块驱动光耦(AQV258系列)

检测方法

1.IEC60747-5-5:2020《半导体器件分立器件第5-5部分：光电子器件》

2.GB/T15651-2021《半导体分立器件和集成电路光电子器件试验方法》

3.ASTMF1248-16《光耦合器电流传输比测量标准方法》

4.JEDECJESD22-A101D《稳态温度湿度偏置寿命试验》

5.MIL-STD-750F方法1021《绝缘耐压试验程序》

检测设备

1.TH2839高精度LCR测试仪：测量绝缘电阻与介质耐压特性

2.KeysightB2902A精密源表：执行CTR线性度扫描测试

3.TektronixMSO64示波器：分析ns级响应时间波形特性

4.ESPECPL-3KPH温度冲击箱：验证-65℃~+150℃极端温变性能

5.Chroma19032耐压测试仪：实现0~5kVAC/DC耐压自动测试

6.HP4339B高阻计：测量10^12Ω级绝缘阻抗参数

7.NFCorporationFRA5087频率响应分析仪：评估带宽特性至10MHz

8.HIELUV-130老化试验箱：执行1000h@85℃/85%RH加速寿命试验

9.Agilent4156C半导体参数分析仪：完整IV特性曲线测绘

10.OMRONZS-L直流负载系统：模拟实际负载条件下的动态特性

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于光耦合器检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

上一篇：分动箱测试
下一篇：比热容测定

本文地址：https://www.beijianceshi.com/bjcs-info/18783.html