透射电镜分析

检测项目

1. 晶体结构分析：选区电子衍射(SAED)模式，晶面间距测量精度±0.002 nm

2. 元素成分分析：能量色散X射线谱(EDS)，探测元素范围B-U(原子序数5-92)

3. 高分辨成像：点分辨率≤0.19 nm，线分辨率≤0.14 nm

4. 缺陷表征：位错密度测量误差＜10^6 cm^-2

5. 纳米颗粒统计：粒径分布统计误差±3%(基于200+颗粒样本)

检测范围

1. 金属材料：铝合金析出相表征/钛合金位错网络观测

2. 半导体器件：GaN外延层缺陷分析/SiC晶界结构解析

3. 纳米材料：量子点尺寸分布/碳纳米管手性测定

4. 生物样品：病毒颗粒三维重构/蛋白质晶体结构解析

5. 陶瓷材料：ZrO2相变机制研究/Al2O3晶界偏析分析

检测方法

1. ASTM E3140-18：纳米颗粒尺寸分布统计规范

2. ISO 25498:2018：微束分析-透射电镜选区电子衍射方法

3. GB/T 27788-2020：微束分析-透射电镜能谱定量分析方法

4. ISO 21363:2020：纳米技术-透射电镜颗粒尺寸测量

5. GB/T 36065-2018：纳米材料表征用透射电子显微镜方法

检测设备

1. JEOL JEM-2100F：场发射透射电镜，配备Gatan OneView相机(4k×4k像素)

2. FEI Tecnai G2 F30：300kV STEM/TEM双模式系统

3. Hitachi HT7800：120kV生物电镜专用机型

4. Thermo Fisher Talos F200X：四探头EDS系统(Super-X技术)

5. Zeiss Libra 200 MC：单色器配置(能量分辨率＜0.7 eV)

6. JEOL JEM-ARM300F：原子分辨率电镜(球差校正型)

7. FEI Titan Themis Z：三维化学分析系统(ETEM模式)

8. Hitachi HF5000：冷场发射枪(束流稳定性＜0.4%/h)

9. Thermo Fisher Spectra 300：单原子灵敏度能谱仪

10. JEOL JEM-Z300FCR：双球差校正系统(STEM/TEM双模式)

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于透射电镜分析相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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