单个颗粒检测

检测项目

1. 粒径分布：测量D10/D50/D90值及跨度系数(Span Index)，范围0.1-1000μm

2. 形貌特征：分析球形度(Sphericity≥0.85)、长径比(Aspect Ratio≤3:1)及表面粗糙度(Ra≤0.5μm)

3. 元素组成：采用EDS/WDS测定主量元素(含量≥1wt%)及痕量杂质(检出限≤0.01wt%)

4. 晶体结构：XRD分析晶型纯度(半峰宽FWHM≤0.1°)及晶格常数偏差(Δa/a≤0.2%)

5. 热稳定性：TG-DSC测定分解温度(T_d≥300℃)及相变焓值(ΔH≥50J/g)

6. 表面电荷：Zeta电位测量范围±100mV，精度±0.5mV

检测范围

1. 金属粉末：钛合金/铝合金/铜基粉末(粒径1-150μm)

2. 陶瓷颗粒：氧化铝/碳化硅/氮化硼(纯度≥99.9%)

3. 高分子微球：聚苯乙烯/聚乳酸/PMMA(粒径分布CV≤5%)

4. 药物颗粒：API晶体/缓释微丸(比表面积1-20m²/g)

5. 纳米材料：量子点/碳纳米管/石墨烯(层数≤10层)

6. 矿物粉体：碳酸钙/滑石粉/硅微粉(白度≥90%)

检测方法

1. ISO 13320:2020 激光衍射法测定粒径分布

2. ASTM B822-20 金属粉末粒度测试标准

3. GB/T 19077-2016 粒度分析-激光衍射法

4. ISO 9276-2:2014 粒度分析数据表达规范

5. GB/T 17432-2012 金属粉末粒度组成的测定

6. ASTM E2859-11(2019) 扫描电镜图像分析法

7. ISO 19749:2021 纳米颗粒扫描电镜测量指南

检测设备

1. Malvern Mastersizer 3000：激光粒度仪，量程0.01-3500μm

2. JEOL JSM-7900F：场发射扫描电镜，分辨率0.8nm@15kV

3. Bruker D8 ADVANCE：X射线衍射仪，角度精度±0.0001°

4. Micromeritics TriStar II 3020：比表面分析仪，孔径测量0.35-500nm

5. Horiba SZ-100Z：纳米粒度及Zeta电位仪，浓度范围0.1ppm-40%

6. Netzsch STA 449 F5：同步热分析仪，温度范围RT-1550℃

7. Olympus DSX1000：数码显微镜，景深扩展功能支持3D重构

8. Agilent 7900 ICP-MS：元素分析仪，检出限低至ppt级

9. Anton Paar Litesizer 500：动态光散射仪，粒径测量0.3nm-10μm

10. Shimadzu AIM-9000：红外显微镜，空间分辨率1.1μm

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是关于单个颗粒检测相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询在线工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解（高校、研究所等性质的个人除外）。

服务优势

1、拥有完善的检测服务体系，科学、严谨、认证。

2、我院对已出过的报告负责。

3、提供编写MSDS报告、TDS报告服务。

4、检测服务领域广，可参考标准多（国标、企标、通标、工标、国际标准等）。

5、周期短，费用低，方案全。

6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。

7、全国上门取样/现场见证试验。

8、资质全，团队强，后期服务体系完善

报告作用

1、工业问题诊断：包括失效分析、科学诊断、数据验证等，可以快速检测出产品问题，尽快止损；

2、其他鉴定服务：协助相关部门证据链补充、证物材料补充、质量检测、样品分析；

4、研发使用：试验经验丰富，试验设备多，为科研工作提供数据支持；

3、高校论文：提供研究性实验数据、分析服务，给论文提供科学依据；

5、投标：检测周期短，准确性高，出具的第三方检测报告合法合规；

7、控制材料质量，进行产品内控，降低成本、风险。

试验流程

1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；

2、双方签订委托书，我方接收样品；

3、进行细节沟通，我方进行试验测试；

4、试验测试完成，出具检测测试报告；

5、委托完成，我方提供售后服务。

检测仪器(部分)

合作客户(部分)

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